[发明专利]一种字符缺陷检测方法有效

专利信息
申请号: 202110106562.4 申请日: 2021-01-26
公开(公告)号: CN112763513B 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 邓承建;张会;谷宏亮 申请(专利权)人: 广东奥普特科技股份有限公司
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 潘俊达;王滔
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 字符 缺陷 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种字符缺陷检测方法,其特征在于,包括:

S1、采集标准字符图像,采用滤波算法对所述标准字符图像进行图像处理,提取到标准字符的轮廓,并将其记为模板轮廓;

S2、将待检测的字符记为当前字符,采集当前字符图像,采用滤波算法对所述当前字符图像进行图像处理,提取到当前字符的轮廓,并将其记为当前轮廓;

S3、通过计算所述模板轮廓和所述当前轮廓的最大距离,实现所述模板轮廓和所述当前轮廓的比对,获得是否存在笔画缺失或者笔画重叠的字符缺陷检测结果;

所述S3包括以下步骤:

S3-1、将所述模板轮廓和所述当前轮廓置于同一水平直角坐标系并使所述模板轮廓和所述当前轮廓匹配对齐,计算所述模板轮廓中的所有点到所述当前轮廓的最小距离,在所有距离中选取出最大值作为所述模板轮廓到所述当前轮廓的最大距离;

所述S3-1中计算所述模板轮廓到所述当前轮廓的最大距离的过程包括:

假设P={Pi=(xi,yi)|i∈(0,M]}为所述模板轮廓的点集,Q={Qk=(xk,yk)|k∈(0,N]}为所述当前轮廓的点集,其中,xi表示轮廓点Pi的横坐标,yi表示轮廓点Pi的纵坐标,xk表示轮廓点Qk的横坐标,yk表示轮廓点Qk的纵坐标,M为所述模板轮廓的总点数,N为所述当前轮廓的总点数,所述模板轮廓的Pi点到所述当前轮廓的最小距离为:

所述模板轮廓到所述当前轮廓的最大距离为:

Dmax_i=max(Di);

S3-2、计算所述当前轮廓的点到所述模板轮廓的最小距离,比较所述当前轮廓的点到所述模板轮廓的最大距离与所述模板轮廓到所述当前轮廓的最大距离,实现所述模板轮廓和所述当前轮廓的比对,输出检测结果;

所述当前轮廓的点到所述模板轮廓的最小距离为:

所述当前轮廓的点到所述模板轮廓的最大距离为:

Dmax_k=max(Dk);

所述Dmax_i表示所述模板轮廓到所述当前轮廓的最大距离,所述Dmax_k表示所述当前轮廓的点到所述模板轮廓的最大距离,比较Dmax_i和Dmax_k的大小,若Dmax_i大于Dmax_k,输出存在字符笔画缺失的字符缺陷检测结果;若Dmax_i小于Dmax_k,输出存在字符笔画重叠的字符缺陷检测结果。

2.如权利要求1所述的字符缺陷检测方法,其特征在于,所述S3还包括以下步骤:

将所述当前轮廓叠置于所述模板轮廓,若所述模板轮廓与所述当前轮廓不重合,提取所述模板轮廓与所述当前轮廓不重合的各个轮廓点,在不重合的各个轮廓点中计算所述模板轮廓的轮廓点Pi的坐标和所述当前轮廓的轮廓点Qk的坐标的最大距离Dik

计算所述模板轮廓的轮廓点Pi的坐标和所述当前轮廓的轮廓点Qk的最大距离Dik的公式为:

其中,xi表示轮廓点Pi的横坐标,yi表示轮廓点Pi的纵坐标,xk表示轮廓点Qk的横坐标,yk表示轮廓点Qk的纵坐标;

设定所述当前轮廓的字符正常时的阈值为J,比较J和Dik的大小,结合所述模板轮廓的轮廓点总数M和所述当前轮廓的轮廓点总数N的大小关系,输出检测结果;

若DikJ,且MN,输出存在字符笔画缺失的字符缺陷检测结果;

若DikJ,且NM,输出存在字符笔画重叠的字符缺陷检测结果。

3.如权利要求1所述的字符缺陷检测方法,其特征在于,所述S1中的对所述标准字符图像进行图像处理的过程还包括:对所述标准字符图像调节对比度,二值化处理所述标准字符图像。

4.如权利要求1所述的字符缺陷检测方法,其特征在于,所述S2中的对所述当前字符图像进行图像处理的过程还包括:对所述当前字符图像调节对比度,二值化处理所述当前字符图像。

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