[发明专利]电阻焊用电极的修整好坏判断方法及其装置有效
申请号: | 202110110795.1 | 申请日: | 2021-01-27 |
公开(公告)号: | CN113305410B | 公开(公告)日: | 2022-11-25 |
发明(设计)人: | 前田阳祐;中崎大辅;名和原彬 | 申请(专利权)人: | 马自达汽车株式会社 |
主分类号: | B23K11/30 | 分类号: | B23K11/30;B23K11/24 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 刘煜 |
地址: | 日本国广岛县*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电阻 用电 修整 好坏 判断 方法 及其 装置 | ||
本发明涉及一种电阻焊用电极的修整好坏判断方法及其装置。修整好坏判断方法用于当在多个焊点进行电阻焊时,判断对电极进行的修整的好坏。该方法包括:累积工序(S1),将刚对电极进行修整后的已知电阻值波形(A)和快要对电极进行修整前的已知电阻值波形(B)进行累积;模型创建工序(S2),根据多个刚修整后已知电阻值波形(A)和多个快修整前已知电阻值波形(B),通过统计方法创建模型,该模型用于设定修整好坏判断的阈值;波形获取工序(S3),获取刚对电极进行修整后的未知电阻值波形(C);以及判断工序(S4),通过对刚修整后未知电阻值波形(C)与判断修整好坏的阈值进行比较,判断修整正常还是修整异常。
背景技术
本发明涉及一种电阻焊用电极的修整好坏判断方法及其装置。
在电阻焊中,利用一对电极对由多块金属板重叠而成的工件进行加压并通电。在该多块金属板上,因电阻而产生焦耳热,使得其与电极之间的接触部分局部熔融。
由于反复进行焊接,电极的顶端磨损而导致直径变大。如果在电极的顶端磨损的状态下进行焊接,则因为电阻较小,所以无法得到足够的焦耳热,可能导致焊接强度不足。
于是,以一定的周期对电极的顶端进行修整。通过正常进行修整,电极的顶端直径变小,能够得到足够的焦耳热,从而能够保证焊接强度。
另一方面,如果修整进行得不充分,则电极的顶端不会变细,焦耳热不足,可能导致焊接强度不足。
因此,为了保证强度品质,需要高精度地判断修整的好坏,即高精度地判断修整是正常还是异常。
已有各种发明公开了关于修整好坏的判断方法和装置。例如,日本公开专利公报特开2018-167302号公报所涉及的电阻焊用电极的修整好坏判断装置包括通电介质、测量部以及判断部,该通电介质与一对电极的顶端抵接,该测量部在通过一对电极向通电介质通电时,对该通电介质的电阻值进行测量,该判断部根据由测量部测量出的通电介质的电阻值,判断一对电极的修整好坏。
发明内容
一对电极之间的电阻值随时间推移而发生变化。因此,如果像上述专利文献1那样,仅根据某一时刻的通电介质的电阻值,来进行修整好坏判断,则可能导致误判。例如,刚开始通电后,金属板间隙对电阻值影响较大。因此,仅根据刚开始通电后的某一时刻的电阻值,来进行修整好坏判断时,尽管本来修整正常,也可能被判断为修整异常,或做出相反的判断。
于是,能够想到根据表示通电时间与电阻值之间的关系的整个电阻值波形,来进行修整好坏判断的方法。
要根据该方法高精度地进行修整好坏判断,就需要适当地设定作为判断基准的阈值。然而,电阻值波形的形态因焊点不同而不同,或者其随电极的经年变化而发生变化。出于上述理由,在根据电阻值波形进行的修整好坏判断中,很难适当地设定阈值。
本发明正是为解决上述技术问题而完成的,其目的在于:高精度地进行基于电阻值波形的修整好坏判断。
本发明涉及一种电阻焊用电极的修整好坏判断方法,其用于当在多个焊点进行利用一对电极对由多块金属板重叠而成的工件进行加压并通电来将多块所述金属板焊接起来的电阻焊时,判断对所述电极进行的修整的好坏,该电阻焊用电极的修整好坏判断方法包括累积工序、模型创建工序、波形获取工序以及判断工序,在所述累积工序中,在多个所述焊点中作为修整好坏的判断对象的判断对象焊点,对多个刚对所述电极进行修整后的已知电阻值波形即刚修整后已知电阻值波形和多个快要对所述电极进行修整前的已知电阻值波形即快修整前已知电阻值波形分别进行累积,在所述模型创建工序中,在所述判断对象焊点,根据多个所述刚修整后已知电阻值波形和多个所述快修整前已知电阻值波形,通过统计方法创建模型,所述模型用于设定判断修整好坏的阈值,在所述波形获取工序中,在所述判断对象焊点,获取刚对所述电极进行修整后的未知电阻值波形即刚修整后未知电阻值波形,在所述判断工序中,在所述判断对象焊点,通过对所述刚修整后未知电阻值波形和所述阈值进行比较,判断对所述电极进行的修整是正常还是异常。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于马自达汽车株式会社,未经马自达汽车株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110110795.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:荧光X射线分析装置
- 下一篇:半导体器件和图像传感器以及形成半导体器件的方法