[发明专利]目标距离测量方法，装置，电子设备及存储介质

说明书

本申请实施例中提供了一种目标距离测量方法，装置，电子设备及存储介质；该方法包括：获取当前目标物体和参考物的深度图；获取在目标物体和参考物的标准点云数据中，标注的感兴趣区域；配准所述感兴趣区域与待测量点云数据，得到所述目标物体和参考物在所述待测量点云数据中的定位点集，所述待测量点云数据为所述深度图对应的点云数据；根据所述定位点集计算目标距离，所述目标距离为所述目标物体和参考物之间的距离。通过配准得到定位点集，可以在待测量点云数据中准确定位出所述目标物体和参考物，再根据定位点集计算所述目标物体和参考物之间的距离，从而可以高精度，客观的获得目标物体和参考物之间的距离，可有效替代人工完成测量。

技术领域

本申请涉及计算机视觉技术领域，具体地，涉及一种目标距离测量方法，装置，电子设备及存储介质。

背景技术

高精度的距离测量对于检测工业零件的健康状态发挥着重要作用。当工业零件和参考物的距离不在预期范围内时，将会给该工业设备的正常运行带来潜在的危险。为了工业设备的正常运行，高精度的距离测量是必须的。

然而，目前高精度的测量方式通常是人工测量，由于高精度量往往需要精确到毫米级，当工人用尺子测量工业零件和参考物时，对于定位点艰难精确的选择，并且在读取尺子的测量值时，也存在主观性，从而导致测量结果的误差增大。并且随着测量任务的增多，依赖人工测量不仅不够准确，效率也不高。

发明内容

本申请实施例中提供了一种目标距离测量方法，装置，电子设备及存储介质，可以准确度定位目标物体和参考物，高精度且客观的计算目标物体与参考物之间的距离，有效替代人工完成距离测量。

根据本申请实施例的第一个方面，提供了一种目标距离测量方法，该方法包括：获取当前目标物体和参考物的深度图；获取在目标物体和参考物的标准点云数据中，标注的感兴趣区域；配准所述感兴趣区域与待测量点云数据，得到所述目标物体和参考物在所述待测量点云数据中的定位点集，所述待测量点云数据为所述深度图对应的点云数据；根据所述定位点集计算目标距离，所述目标距离为所述目标物体和参考物之间的距离。

根据本申请实施例的第二个方面，提供了一种目标距离测量装置，该装置包括：第一获取模块，用于获取当前目标物体和参考物的深度图；第二获取模块，用于获取在目标物体和参考物的标准点云数据中，标注的感兴趣区域；配准模块，用于配准所述感兴趣区域与待测量点云数据，得到所述目标物体和参考物在所述待测量点云数据中的定位点集，所述待测量点云数据为所述深度图对应的点云数据；计算模块，用于根据所述定位点集计算目标距离，所述目标距离为所述目标物体和参考物之间的距离。

根据本申请实施例的第三个方面，提供了一种电子设备，该电子设备包括一个或多个处理器；存储器；一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序配置用于执行如上述应用于电子设备的方法。

根据本申请实施例的第四方面，本申请实施列提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有程序代码，其中，在所述程序代码运行时执行上述的方法。

采用本申请实施例中提供的目标距离测量方法，获取当前目标物体和参考物的深度图；获取在目标物体和参考物的标准点云数据中，标注的感兴趣区域；配准所述感兴趣区域与待测量点云数据，得到所述目标物体和参考物在所述待测量点云数据中的定位点集，从而可以在待测量点云数据中准确定位出所述目标物体和参考物。再根据定位点集计算所述目标物体和参考物之间的距离，从而可以高精度，客观的获得目标物体和参考物之间的距离，可有效替代人工完成测量。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本申请一个实施例提供的目标距离测量方法的流程图；