[发明专利]一种半导体封装结构及其制造方法、半导体器件在审

专利信息
申请号: 202110117983.7 申请日: 2021-01-28
公开(公告)号: CN112908971A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 胡文华;曹立强 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司;上海先方半导体有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L21/98;H01L23/538;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 薛异荣
地址: 214000 江苏省无锡市新区太湖国*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 封装 结构 及其 制造 方法 半导体器件
【说明书】:

发明提供一种封装结构和半导体器件。半导体封装结构包括:塑封层;第一互联结构层,第一互联结构层位于塑封层一侧表面,第一互联结构层包括第一金属层;转接板,转接板位于塑封层中,板体延展的平面垂直于第一互联结构层,转接板内具有转接板金属层,转接板金属层连接第一金属层;第一芯片,第一芯片位于第一互联结构层朝向塑封层一侧的表面,第一芯片连接第一金属层,塑封层包覆第一芯片;第二芯片,第二芯片位于第一互联结构层朝向塑封层一侧的表面,第二芯片连接第一金属层,塑封层包覆第一芯片;第一芯片和第二芯片为不同种类的芯片,第一芯片和第二芯片分别位于转接板的两侧。

技术领域

本发明涉及半导体封装技术领域,具体涉及一种半导体封装结构及其制造方法、半导体器件。

背景技术

系统级封装的半导体封装结构中,同层的不同芯片通常需要高密度互联。通常的做法是通过多条平面互联线密集布线实现互联。但是这样的做法需要多层布线,由于工艺的限制线宽线距较大,使得布线区域在封装结构的水平面上占据较大的面积,不利于封装结构水平方向上的小型化。

发明内容

因此,本发明提供一种半导体封装结构及其制造方法、半导体器件,以解决系统级半导体封装结构同层的不同芯片之间互联,平面互联线的布线区影响封装结构的小型化的问题。

本发明提供一种半导体封装结构,包括:塑封层;第一互联结构层,第一互联结构层位于塑封层一侧表面,第一互联结构层包括第一金属层;转接板,转接板位于塑封层中,板体延展的平面垂直于第一互联结构层,转接板内具有转接板金属层,转接板金属层连接第一金属层;第一芯片,第一芯片位于第一互联结构层朝向塑封层一侧的表面,第一芯片连接第一金属层,塑封层包覆第一芯片;第二芯片,第二芯片位于第一互联结构层朝向塑封层一侧的表面,第二芯片连接第一金属层,塑封层包覆第二芯片;第一芯片和第二芯片为不同种类的芯片,第一芯片和第二芯片分别位于转接板的两侧。

可选的,转接板包括板体,板体具有相对的第一表面和第二表面,第一表面和第二表面分别为板体各个表面中面积最大的两个表面,第一表面垂直于第一互联结构层;第二表面垂直于第一互联结构层;第一表面具有第一底边,第一表面在第一底边一侧设置有多个第一底边接脚,多个第一底边接脚连接第一金属层;多个第一底边接脚还连接转接板金属层;第二表面具有第二底边,第二表面在第二底边一侧设置有多个第二底边接脚,多个第二底边接脚连接第一金属层;多个第二底边接脚还连接转接板金属层。

可选的,多个第一底边接脚平行于第一底边排列,多个第二底边接脚平行于第二底边排列。

可选的,第一芯片的数量为多个;和/或,第二芯片的数量为多个。

可选的,第一表面还设置有多个接点,第二表面还设置有多个接点,转接板金属层连接第一表面的多个接点和第二表面的多个接点;第一表面设置有第三元件,第三元件通过第一表面的接点连接转接板金属层;和/或,第二表面设置有第三元件,第三元件通过第二表面的接点连接转接板金属层;

可选的,第三元件为无源器件或芯片。

本发明还提供一种半导体封装结构的制造方法,包括以下步骤:形成塑封层;形成第一互联结构层,第一互联结构层位于塑封层一侧表面,第一互联结构层包括第一金属层;设置转接板,转接板位于塑封层中,板体延展的平面垂直于第一互联结构层,转接板内具有转接板金属层,转接板金属层连接第一金属层;贴装第一芯片,第一芯片位于第一互联结构层朝向塑封层一侧的表面,第一芯片连接第一金属层,塑封层包覆第一芯片;贴装第二芯片,第二芯片位于第一互联结构层朝向塑封层一侧的表面,第二芯片连接第一金属层,塑封层包覆第二芯片;其中第一芯片和第二芯片为不同种类的芯片,第一芯片和第二芯片分别位于转接板的两侧。

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