[发明专利]一种光源的检测系统和检测方法有效

专利信息
申请号: 202110120812.X 申请日: 2021-01-28
公开(公告)号: CN112462351B 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 梁栋;张成;李天磊;刘嵩 申请(专利权)人: 常州纵慧芯光半导体科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01M11/02
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 林凡燕
地址: 213000 江苏省常州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 光源 检测 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种光源的检测方法,其特征在于,包括:

设置一测量点阵,所述测量点阵包括多个相互离散的测量点;

采用脉冲信号驱动所述光源,以使所述光源发射光线,所述光线照射在所述测量点阵上形成光斑,其中所述光斑覆盖多个所述测量点;

依次采集在一个脉冲宽度内所述光斑覆盖的多个所述测量点的光线强度,以获得多个光强变化曲线;

根据所述光源和所述测量点阵的相对位置,以及多个所述光强变化曲线,构建所述光线强度与所述测量点位置的变化曲线,以获得所述光源的远场在所述脉冲宽度内的演化过程;

其中,通过高速检测器采集多个所述测量点在所述脉冲宽度内不同时间下的光线强度,并通过示波器形成光线强度与时间的变化曲线,以形成所述光强变化曲线。

2.根据权利要求1所述的光源的检测方法,其特征在于,多个所述测量点之间的距离相同或不同。

3.根据权利要求1所述的光源的检测方法,其特征在于,所述脉冲信号包括电流脉冲信号或电压脉冲信号。

4.根据权利要求1所述光源的检测方法,其特征在于,所述高速检测器的响应时间小于所述脉冲宽度。

5.根据权利要求1所述光源的检测方法,其特征在于,根据所述光线强度与所述测量点位置的变化曲线计算所述光源的发散角。

6.根据权利要求1所述光源的检测方法,其特征在于,根据多个所述光强变化曲线计算所述光源的发散角的变化曲线。

7.根据权利要求1所述光源的检测方法,其特征在于,所述光强变化曲线表示为所述测量点在所述脉冲宽度内光线强度随时间的变化曲线。

8.根据权利要求1所述光源的检测方法,其特征在于,所述光源包括垂直腔面发射激光器,发光二极管或边发射激光器。

9.一种光源的检测系统,使用权利要求1-8任一所述的光源的检测方法,其特征在于,包括:

测量点阵,包括多个相互离散的测量点;

光源,当采用脉冲信号驱动所述光源,以使所述光源发射光线,所述光线照射在所述测量点阵上形成光斑,其中所述光斑覆盖多个所述测量点;

高速检测器,用于依次采集在一个脉冲宽度内所述光斑覆盖的多个所述测量点的光线强度;

示波器,用于形成光强变化曲线;

分析单元,用于根据所述光源和所述测量点阵的相对位置,以及多个所述光强变化曲线,构建所述光线强度与所述测量点位置的变化曲线,以获得所述光源的远场在所述脉冲宽度内的演化过程。

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