[发明专利]一种光源的检测系统和检测方法有效

专利信息
申请号: 202110120812.X 申请日: 2021-01-28
公开(公告)号: CN112462351B 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 梁栋;张成;李天磊;刘嵩 申请(专利权)人: 常州纵慧芯光半导体科技有限公司
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01M11/02
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 林凡燕
地址: 213000 江苏省常州*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 光源 检测 系统 方法
【说明书】:

发明提出一种光源的检测系统和检测方法,设置一测量点阵,所述测量点阵包括多个相互离散的测量点;采用脉冲信号驱动所述光源,以使所述光源发射光线,所述光线照射在所述测量点阵上形成光斑,其中所述光斑覆盖多个所述测量点;依次采集在一个脉冲宽度内所述光斑覆盖的多个所述测量点的光线强度,以获得多个光强变化曲线;根据所述光源和所述测量点阵的相对位置,以及多个所述光强变化曲线,构建所述光线强度与所述测量点位置的变化曲线,以获得所述光源的远场在脉冲宽度内的演化过程。本发明提出一种光源的检测系统和检测方法可以检测到光源的远场在脉冲宽度内的演变过程。

技术领域

本发明涉及激光领域,特别涉及一种光源的检测系统和检测方法。

背景技术

对于很多光源来说,例如发光二极管(LED)、半导体激光器等,当驱动这些光源时,这些光源发射的光线在远场会经历一段演化的过程而最终实现稳定。在一些车载雷达应用领域中,通常采用较短的脉冲信号来驱动光源,从而使得在快速变化的环境中快速感知周围的位置信息,得到快速更新的三维深度图像。因此光线的远场演化过程对于激光雷达的设计和算法具有重要影响,而现有技术中无法准确的检测出光源的远场变化过程。

发明内容

鉴于上述现有技术的缺陷,本发明提出一种光源的检测系统和检测方法,该检测方法可以获得出光源的远场演化过程。

为实现上述目的及其他目的,本发明提出一种光源的检测方法,包括:

设置一测量点阵,所述测量点阵包括多个相互离散的测量点;

采用脉冲信号驱动所述光源,以使所述光源发射光线,所述光线照射在所述测量点阵上形成光斑,其中所述光斑覆盖多个所述测量点;

依次采集在一个脉冲宽度内所述光斑覆盖的多个所述测量点的光线强度,以获得多个光强变化曲线;

根据所述光源和所述测量点阵的相对位置,以及多个所述光强变化曲线,构建所述光线强度与所述测量点位置的变化曲线,以获得所述光源的远场在所述脉冲宽度内的演化过程。

进一步地,多个所述测量点之间的距离相同或不同。

进一步地,所述脉冲信号包括电流脉冲信号或电压脉冲信号。

进一步地,通过高速检测器采集多个所述测量点在所述脉冲宽度内不同时间下的光线强度,并通过示波器形成光线强度与时间的变化曲线,以形成所述光强变化曲线。

进一步地,所述高速检测器的响应时间小于所述脉冲宽度。

进一步地,根据所述光线强度与所述测量点位置的变化曲线计算所述光源的发散角。

进一步地,根据多个所述光强变化曲线计算所述光源的发散角的变化曲线。

进一步地,所述脉冲宽度为0.1纳秒-1秒。

进一步地,所述光源包括垂直腔面发射激光器,发光二极管或边发射激光器。

进一步地,所述光强变化曲线表示为所述测量点在所述脉冲宽度内随时间的变化曲线。

进一步地,本发明还提出一种光源的检测系统,包括:

测量点阵,包括多个相互离散的测量点;

光源,当采用脉冲信号驱动所述光源,以使所述光源发射光线,所述光线照射在所述测量点阵上形成光斑,其中所述光斑覆盖多个所述测量点;

高速检测器,用于依次采集在一个脉冲宽度内所述光斑覆盖的多个所述测量点的光线强度;

示波器,用于形成光强变化曲线;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州纵慧芯光半导体科技有限公司,未经常州纵慧芯光半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110120812.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top