[发明专利]一种可控升降臂测量磨耗及开口尺寸的装置

权利要求书

1.一种可控升降臂测量磨耗及开口尺寸的装置，其特征在于，包括测量壳体(1)与检测结构，所述测量壳体(1)可装设于制动轨(2)底侧，测量壳体(1)内侧具有一腔体；所述检测结构包括设于腔体内的支架(3)、检测组件、回转控制机构(11)以及设于腔体外侧的第一主旋转轴(4)、第二主旋转轴(5)，且第一主旋转轴(4)、第二主旋转轴(5)端部分别转动连接有可控升降测量臂(6)与制动轨跟随测量臂(7)；所述检测组件设有两组且其均装设于支架(3)上，两组检测组件分别与第一主旋转轴(4)、第二主旋转轴(5)对应连接；每组所述检测组件均包括磁角度传感器(8)与行星增加放大器(9)，磁角度传感器(8)可随第一主旋转轴(4)、第二主旋转轴(5)旋转，并使其磁阻随磁场的变化产生相应的电阻变化。

2.根据权利要求1所述的一种可控升降臂测量磨耗及开口尺寸的装置，其特征在于：所述可控升降测量臂(6)包括第一活动测量臂(601)与第二活动测量臂(602)，第一活动测量臂(601)与第一主旋转轴(4)连接，第一活动测量臂(601)端部活动连接有第二活动测量臂(602)，第二活动测量臂(602)可沿活动连接点旋转，第二活动测量臂(602)上设有升降接触点。

3.根据权利要求2所述的一种可控升降臂测量磨耗及开口尺寸的装置，其特征在于：所述第一活动测量臂(601)包括相套而成的主臂与子臂，主臂外设有固定子臂的第一螺栓，子臂伸出主臂的端部活动连接第二活动测量臂(602)。

4.根据权利要求1所述的一种可控升降臂测量磨耗及开口尺寸的装置，其特征在于：所述行星增加放大器(9)与磁角度传感器(8)连接，制动轨跟随测量臂(7)上设有跟随接触测量点。

5.根据权利要求1所述的一种可控升降臂测量磨耗及开口尺寸的装置，其特征在于：所述检测结构还包括记忆金属丝(10)，记忆金属丝(10)底端通过第二螺栓固定在回转控制机构(11)的轴端，记忆金属丝(10)顶端通过带孔活动螺栓固定在第二活动测量臂(602)上。