[发明专利]导体内阻异常识别方法、装置、设备及计算机存储介质

权利要求书

1.一种导体内阻异常识别方法，其特征在于，包括：

建立以导体的温度、电流和其所处空间的环境温度为变量的拟合曲面；

获取所述导体的实际温度值、实际电流值和其所处空间的实际环境温度值；

根据所述实际电流值和实际环境温度值，按照所述拟合曲面推算出所述导体的理论温度值，并计算所述导体的实际温度值与理论温度值之间的差值；

若所述差值小于预设阈值，则判定所述导体内阻正常；若所述差值大于预设阈值，则判定所述导体内阻异常。

2.根据权利要求1所述的导体内阻异常识别方法，其特征在于，所述建立以导体的温度、电流和其所处空间的环境温度为变量的拟合曲面的步骤中包括：

对所述导体的温度、电流和其所处空间的环境温度进行定时采样以获得多个采样点，并通过插值运算以生成所述拟合曲面。

3.根据权利要求2所述的导体内阻异常识别方法，其特征在于，所述对所述导体的温度、电流和其所处空间的环境温度进行定时采样以获得多个采样点，并通过插值运算以生成所述拟合曲面的步骤中包括：

将多个所述采样点经过克里金法生成拟合曲面，并通过趋势面光滑插值法对所述拟合曲面进行延伸扩展处理。

4.根据权利要求2或3所述的导体内阻异常识别方法，其特征在于，所述对所述导体的温度、电流和其所处空间的环境温度进行定时采样以获得多个采样点，并通过插值运算以生成所述拟合曲面的步骤中包括：

采样时去除方差过大的采样点。

5.一种导体内阻异常识别装置，其特征在于，包括：

拟合曲面建立模块，用于建立以导体的温度、电流和其所处空间的环境温度为变量的拟合曲面；

获取模块，用于获取所述导体的实际温度值、实际电流值和其所处空间的实际环境温度值；

计算模块，用于根据所述实际电流值和实际环境温度值，按照所述拟合曲面推算出所述导体的理论温度值，并计算所述导体的实际温度值与理论温度值之间的差值；

判定模块，用于当所述差值小于预设阈值时，判定所述导体内阻正常；当所述差值大于预设阈值时，判定所述导体内阻异常。

6.根据权利要求5所述的导体内阻异常识别装置，其特征在于，所述拟合曲面建立模块包括：

采样计算单元，用于对所述导体的温度、电流和其所处空间的环境温度进行定时采样以获得多个采样点，并通过插值运算以生成所述拟合曲面。

7.根据权利要求6所述的导体内阻异常识别装置，其特征在于，所述采样计算单元包括：

第一执行子单元，用于将多个所述采样点经过克里金法生成拟合曲面，并通过趋势面光滑插值法对所述拟合曲面进行延伸扩展处理。

8.根据权利要求6或7所述的导体内阻异常识别装置，其特征在于，所述采样计算单元包括：

第二执行子单元，用于采样时去除方差过大的采样点。

9.一种导体内阻异常识别设备，其特征在于，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4中任一项所述导体内阻异常识别方法的步骤。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述导体内阻异常识别方法的步骤。