[发明专利]导体内阻异常识别方法、装置、设备及计算机存储介质

说明书

本发明公开一种导体内阻异常识别方法，该导体内阻异常识别方法包括：建立以导体的温度、电流和其所处空间的环境温度为变量的拟合曲面；获取所述导体的实际温度值、实际电流值和其所处空间的实际环境温度值；根据所述实际电流值和实际环境温度值，按照所述拟合曲面推算出所述导体的理论温度值，并计算所述导体的实际温度值与理论温度值之间的差值；若所述差值小于预设阈值，则判定所述导体内阻正常；若所述差值大于预设阈值，则判定所述导体内阻异常。相较于目前凭借个人经验判定的方式，采用本发明导体内阻异常识别方法可提高导体内阻异常判定的准确性。此外，本发明还公开一种导体内阻异常识别装置、设备及计算机存储介质。

技术领域

本发明涉及导体检测技术领域，特别涉及一种导体内阻异常识别方法、装置、设备及计算机存储介质。

背景技术

导体(conductor)是指电阻率很小且易于传导电流的物质，其具有多种类型，如金属、石墨、电解质溶液等，其中，金属为最常见的一种导体。在外电场作用下，导体中所存在的大量可自由移动的带电流子作定向运动，从而可形成明显的电流。

经了解便知，导体本身具有电阻的属性，导体对电流的阻碍作用就叫做该导体的内阻，不同的导体，内阻一般不同。然而，一旦导体内阻出现异常，将引起供电故障，影响系统工作运行。目前，当系统发生故障时，对于导体内阻是否出现异常，工作人员通常依据导体的参数(比如长度、宽度、材质等)，凭借个人经验进行判断，准确性不高，影响抢修效率。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种导体内阻异常识别方法，旨在解决目前对于导体内阻异常的判定方式存在准确性不高的技术问题。

为实现上述目的，本发明提出一种导体内阻异常识别方法，该导体内阻异常识别方法包括：

建立以导体的温度、电流和其所处空间的环境温度为变量的拟合曲面；

获取所述导体的实际温度值、实际电流值和其所处空间的实际环境温度值；

根据所述实际电流值和实际环境温度值，按照所述拟合曲面推算出所述导体的理论温度值，并计算所述导体的实际温度值与理论温度值之间的差值；

若所述差值小于预设阈值，则判定所述导体内阻正常；若所述差值大于预设阈值，则判定所述导体内阻异常。

优选地，所述建立以导体的温度、电流和其所处空间的环境温度为变量的拟合曲面的步骤中包括：

对所述导体的温度、电流和其所处空间的环境温度进行定时采样以获得多个采样点，并通过插值运算以生成所述拟合曲面。

优选地，所述对所述导体的温度、电流和其所处空间的环境温度进行定时采样以获得多个采样点，并通过插值运算以生成所述拟合曲面的步骤中包括：

将多个所述采样点经过克里金法生成拟合曲面，并通过趋势面光滑插值法对所述拟合曲面进行延伸扩展处理。

优选地，所述对所述导体的温度、电流和其所处空间的环境温度进行定时采样以获得多个采样点，并通过插值运算以生成所述拟合曲面的步骤中包括：

采样时去除方差过大的采样点。

本发明还提出一种导体内阻异常识别装置，该导体内阻异常识别装置包括：

拟合曲面建立模块，用于建立以导体的温度、电流和其所处空间的环境温度为变量的拟合曲面；

获取模块，用于获取所述导体的实际温度值、实际电流值和其所处空间的实际环境温度值；

计算模块，用于根据所述实际电流值和实际环境温度值，按照所述拟合曲面推算出所述导体的理论温度值，并计算所述导体的实际温度值与理论温度值之间的差值；