[发明专利]一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法有效

申请号：	202110136762.4	申请日：	2021-02-01
公开（公告）号：	CN112957012B	公开（公告）日：	2022-09-30
发明（设计）人：	王敬涛;王正义;彭建华;张林涛	申请（专利权）人：	浙江省医疗器械检验研究院
主分类号：	A61B5/00	分类号：	A61B5/00;A61B3/10;G01M11/02
代理公司：	北京彩和律师事务所 11688	代理人：	刘磊;闫桑田
地址：	310018 浙江省杭***	国省代码：	浙江;33
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摘要：
搜索关键词：	一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置测量方法
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【说明书】：

本发明涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。本发明还涉及一种使用所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置的光学干涉断层成像系统轴向分辨率的测量方法。本发明的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量方法通过一次扫描便可以得到系统的实际轴向分辨率，而无需反复调整空气隙实际宽度来无限逼近系统实际分辨率，因此具有操作简单、快速的特点。

技术领域

本发明属于光学检测技术领域，具体涉及一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置及测量方法。

背景技术

光学相干断层扫描技术(Optical Coherence Tomography，简称OCT)是近年来发展较快的一种最具发展前途的新型层析成像技术，特别是在生物组织活体检测和成像方面具有诱人的应用前景，已尝试在心内科、眼科、牙科和皮肤科的临床诊断中应用，是继X-CT和MRI技术之后的又一大技术突破，近年来已得到了迅速的发展，基于该技术的光学干涉断层成像系统可使人们获得微米量级空间分辨率的超高清影像。与此同时，光学干涉断层成像系统的轴向分辨率等关键指标的测量成为此研发领域的重要课题。

光学干涉断层成像系统的轴向分辨率一般是在微米至十微米量级，如何方便而又精准地测量出轴向分辨率的具体数值，是该技术领域的一大挑战。目前尚无特别高效准确的测量轴向分辨率的方法。

发明内容

为了解决光学干涉断层成像系统的轴向分辨率的快速准确测量本发明提供一种光学干涉断层成像系统轴向分辨率的测量装置及测量方法。

本发明涉及的光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置，包括光学基准板和光学参考板，其中所述光学基准板和所述光学参考板之间的夹角为0.1度至0.5度。

在一实施例中，所述光学基准板为玻璃，其厚度为0.6mm至1.5mm，折射率为1.3至1.9。

在一实施例中，所述光学参考板为玻璃，其厚度为0.6mm至1.5mm，折射率为1.3至1.9。

在一实施例中，所述光学干涉断层成像系统轴向分辨率测量装置还包括光学基准座，所述光学基准座承载所述光学基准板和所述光学参考板。

在一实施例中，所述光学光学基准座包括底板和侧壁，所述光学参考板位于所述光学基准板和所述底板之间。

在一实施例中，所述侧壁支撑所述光学基准板。

在一实施例中，所述底板和所述侧壁共同支撑所述光学参考板。

在一实施例中，所述底板与所述光学基准板平行设置。

在一实施例中，所述底板上带有沿标尺，标尺延伸方向垂直于所述光学基准板和所述光学参考板相交的棱，或者垂直于所述光学基准板和所述光学参考板延伸后相交的棱。