[发明专利]一种数字通讯总线电平检测电路在审

专利信息
申请号: 202110145178.5 申请日: 2021-02-02
公开(公告)号: CN112798852A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 金羊华;黄黎;丁希聪;刘尧;蒋乐跃 申请(专利权)人: 美新半导体(天津)有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 代理人: 庞聪雅
地址: 300450 天津市自贸试验区(*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 数字通讯 总线 电平 检测 电路
【权利要求书】:

1.一种数字通讯总线电平检测电路,其特征在于,其包括:

外部端口(1),其与外部端口电源(VDDIO)相连;

内部串行时钟引脚(2),其与外部串行时钟线(SCL)相连,以接收外部串行时钟信号(SCL);

内部串行数据引脚(3),其与外部串行数据线(SDA)相连,以接收外部串行数据信号(SDA);

第一上拉电阻(R1),其连接于所述内部串行时钟引脚(2)和外部端口(1)之间;

第二上拉电阻(R2),其连接于所述内部串行数据引脚(3)和外部端口(1)之间;

电平检测器,其用于检测所述内部串行时钟引脚(2)或所述内部串行数据引脚(3)的高电平,并将检测到的该高电平作为参考高电平(VDT),所述参考高电平(VDT)通过所述电平检测器的第一输出端输出;

波形整形电路,其第一输入端接收所述外部串行时钟信号(SCL),其第二输入端接收所述外部串行数据信号(SDA),其第三输入端接收所述参考高电平(VDT),所述波形整形电路以所述参考高电平(VDT)作为逻辑高电平,对所述外部串行数据信号(SDA)进行整形以得到矩形脉冲,该矩形脉冲即为整形后的外部串行数据信号(SDAP),对所述外部串行时钟信号(SCL)进行整形以得到矩形脉冲,该矩形脉冲即为整形后的外部串行时钟信号(SCLP)。

2.根据权利要求1所述的数字通讯总线电平检测电路,其特征在于,其还包括电平转换电路,

所述电平转换电路的第一输入端与所述整形后的外部串行时钟信号(SCLP)相连,其第二输入端与所述整形后的外部串行数据信号(SDAP)相连,其电源端与内部通信电路的电源(VDD)相连,所述电平转换电路以所述内部通信电路的电源(VDD)作为逻辑高电平,对所述整形后的外部串行数据信号(SDAP)进行电平转换以得到内部串行数据信号(SDAin),对所述整形后的外部串行时钟信号(SCLP)进行电平转换以得到内部串行时钟信号(SCLin),

其中,所述内部串行数据信号(SDAin)与所述内部通讯电路中的内部串行数据线相连,所述内部串行时钟信号(SCLin)与所述内部通讯电路中的内部串行时钟线相连。

3.根据权利要求1所述的数字通讯总线电平检测电路,其特征在于,

所述波形整形电路包括第一施密特触发器和第二施密特触发器,

所述第一施密特触发器与所述外部串行时钟信号(SCL)相连,其电源端与参考高电平(VDT)相连,所述第一施密特触发器以参考高电平(VDT)作为逻辑高电平,对所述外部串行时钟信号(SCL)进行整形以得到理想的矩形脉冲,该理想的矩形脉冲即为整形后的外部串行时钟信号(SCLP),所述整形后的外部串行时钟信号(SCLP)由所述第一施密特触发器的输出端输出;

所述第二施密特触发器的输入端与所述外部串行数据信号(SDA),其电源端与参考高电平(VDT)相连,所述第二施密特触发器以参考高电平(VDT)作为逻辑高电平,对所述外部串行数据信号(SDA)进行整形以得到理想的矩形脉冲,该理想的矩形脉冲即为整形后的外部串行数据信号(SDAP),所述整形后的外部串行数据信号(SDAP)由所述第二施密特触发器的输出端输出。

4.根据权利要求2所述的数字通讯总线电平检测电路,其特征在于,

所述电平转换电路包括第一电平转换器和第二电平转换器,

所述第一电平转换器的输入端与所述整形后的外部串行时钟信号(SCLP)相连,其电源端与内部通信电路的电源(VDD)相连,所述第一电平转换器以内部通信电路的电源(VDD)作为逻辑高电平,对所述整形后的外部串行时钟信号(SCLP)进行电平转换以得到内部串行时钟信号(SCLin);

所述第二电平转换器的输入端与所述收整形后的外部串行数据信号(SDAP)相连,其电源端与所述内部通信电路的电源(VDD)相连,所述第二电平转换器以所述内部通信电路的电源(VDD)作为逻辑高电平,对所述整形后的外部串行数据信号(SDAP)进行电平转换以得到内部串行数据信号(SDAin)。

5.根据权利要求1所述的数字通讯总线电平检测电路,其特征在于,

所述外部端口(1)为数字通讯总线的任意外部端口。

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