[发明专利]检测方法及装置、检测设备和存储介质

说明书

一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法应用于检测设备，所述检测设备包括承载台，所述承载台用于承载待测件，所述承载台设置有传感器，所述传感器围成承载空间，所述承载空间与所述待测件的形状和尺寸匹配，所述检测方法包括：获取所述传感器的检测信息；依据所述检测信息获取所述传感器未被所述待测件遮挡的第一部分的信息；及根据所述第一部分的信息计算所述待测件相对于所述承载台的偏转角度和/或偏移距离。无需进行机械对准，可在不受机械作用力的情况下，准确地检测到待测件相对承载台的偏转角度和/或偏移距离，从而防止在对准时造成工件的损坏。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

背景技术

目前，在进行工件的加工或检测时，需要先对工件进行对准，以使得工件处于预设位置处附近，方便后续的加工或检测。在对准时，一般使用机械夹紧装置，将工件夹紧到预设位置，然后再通过光学相机进行拍照，以通过拍摄图像进一步计算工件相对预设位置的偏移量，通过移动装置进行精准移动，从而实现工件的对准。然而，机械夹紧装置在夹紧工件时，由于夹紧力作用，易造成工件的损坏。

发明内容

本申请提供了一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

本申请实施方式的检测方法应用于检测设备，所述检测设备包括承载台，所述承载台用于承载待测件，所述承载台设置有多个传感器，所述传感器围成封闭的承载空间，所述承载空间与所述待测件的形状和尺寸匹配，所述检测方法包括：获取所述传感器的检测信息；依据所述检测信息获取所述传感器未被所述待测件遮挡的第一部分的信息；及根据所述第一部分的信息计算所述待测件相对于所述承载台的偏转角度和/或偏移距离。

本申请实施方式的检测装置应用于检测设备，所述检测设备包括承载台，所述承载台用于承载待测件，所述承载台设置有多个传感器，多个所述传感器围成封闭的承载空间，所述承载空间与所述待测件的形状和尺寸匹配，所述检测装置包括第一获取模块、第二获取模块和计算模块。所述第一获取模块用于获取所述传感器的检测信息；所述第二获取模块用于依据所述检测信息获取所述传感器未被所述待测件遮挡的第一部分的信息；所述计算模块用于根据所述第一部分的信息计算所述待测件相对于所述承载台的偏转角度和/或偏移距离。

本申请实施方式的检测设备包括承载台、多个传感器和处理器。所述承载台用于承载待测件；多个所述传感器设置在所述承载台，多个所述传感器围成封闭的承载空间，所述承载空间与所述待测件的形状和尺寸匹配；所述处理器用于获取所述传感器的检测信息；依据所述检测信息获取所述传感器未被所述待测件遮挡的第一部分的信息；及根据所述第一部分的信息计算所述待测件相对于所述承载台的偏转角度和/或偏移距离。

本申请实施方式的一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行检测方法。所述检测方法应用于检测设备，所述检测设备包括承载台，所述承载台用于承载待测件，所述承载台设置有多个传感器，多个所述传感器围成封闭的承载空间，所述承载空间与所述待测件的形状和尺寸匹配，所述检测方法包括：获取所述传感器的检测信息；依据所述检测信息获取所述传感器未被所述待测件遮挡的第一部分的信息；及根据所述第一部分的信息计算所述待测件相对于所述承载台的偏转角度和/或偏移距离。

本申请的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，通过在承载台边缘设置多个传感器，通过传感器的检测信息，检测传感器未被待测件遮挡的第一部分的信息，从而计算待测件相对承载台的偏转角度和/或偏移距离，相较于光学相机需要进行机械粗对准，才能过进行图像处理以检测偏移量而言，无需进行机械对准，可在不受机械作用力的情况下，准确地检测到待测件相对承载台的偏转角度和/或偏移距离，从而防止在对准时造成工件的损坏。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明