[发明专利]一种PCB板及PCB板试钻孔的加工方法在审

专利信息
申请号: 202110149431.4 申请日: 2021-02-03
公开(公告)号: CN112930029A 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 何亮;张良昌;黄光建 申请(专利权)人: 珠海杰赛科技有限公司;广州杰赛科技股份有限公司
主分类号: H05K1/11 分类号: H05K1/11;H05K1/14;H05K1/18;H05K3/46
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 卢泽明;颜丽
地址: 519170 广东省珠海*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 pcb 钻孔 加工 方法
【说明书】:

一种PCB板试钻孔的加工方法,包括步骤:在第1~N张芯板上标记出规格为3mmX3mm的标记区域,第N‑1标记区域与第N标记区域之间的间距设为4mil;在第N‑1张芯板上,对应第1~N‑2标记区域和第N标记区域的区域进行镂空处理;在第N张芯板上,对应第1~N‑1标记区域的区域进行镂空处理;在每一张芯板的标记区域的第一铜层蚀刻出中心焊盘;在每一张芯板的标记区域的第二铜层蚀刻出中心基材圈,中心基材圈与中心焊盘的中心重合;在第N‑1张芯板和第N张芯板之间夹设介质层;自上而下压合后钻孔。该PCB板试钻孔的加工方法,改善高层板钻孔首板偏位检查效果,提升钻孔对准度,改善钻孔偏位产生内层短路问题。

技术领域

发明涉及线路板加工的技术领域,特别是涉及一种PCB板及PCB板试钻孔的加工方法。

背景技术

对于超高层PCB板,其钻孔层偏效果采用首板试钻孔方式进行检查,由于超高层PCB 板的层数/铜厚较高,且X-RAY检查穿透效果影响等因素,实际试钻孔相对于各层的偏移效果很难识别出来;特别是对于孔到线间距较小的高层板,易导致钻偏后无法识别而产生批量钻孔偏位短路问题。

发明内容

本发明提供一种PCB板及PCB板试钻孔的加工方法,解决了上述现有技术中存在的技术问题,该PCB板试钻孔的加工方法,改善高层板钻孔首板偏位检查效果,提升钻孔对准度,改善钻孔偏位产生内层短路问题。

为了实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

一种PCB板试钻孔的加工方法,其包括下述步骤:所述PCB板包括N个芯板,其中, N为自然数,且N≥2,所述PCB板试钻孔的加工方法包括以下步骤:S1:在第N-1张所述芯板上标记出规格为3mmX3mm的第N-1标记区域;在第N张所述芯板上标记出规格为 3mmX3mm的第N标记区域,所述第N-1标记区域与所述第N标记区域之间的间距设为4mil;

S2:在第N-1张所述芯板上,对应所述第1~N-2标记区域和所述第N标记区域的区域进行镂空处理;在第N张所述芯板上,对应所述第1~N-1标记区域的区域进行镂空处理;S3:在每一张所述芯板的标记区域的第一铜层蚀刻出中心焊盘;在每一张所述芯板的标记区域的第二铜层蚀刻出中心基材圈,所述中心基材圈与所述中心焊盘的中心重合;S4:在第N-1 张所述芯板和第N张所述芯板之间夹设介质层;S5:自上而下压合;S6:自上而下钻孔,形成所述PCB板。

进一步,所述中心焊盘的直径比所述通孔的直径大12mil,所述中心基材圈的直径比所述中心焊盘的直径大8mil。

进一步,在所述S4与S5之间还包括步骤S41:在第一张所述芯板的上面依次设置上介质层和上铜箔层,在第N张所述芯板的下面依次设置下介质层和下铜箔层。

进一步,所述中心焊盘的直径比所述通孔的直径大16mil,所述中心基材圈的直径比所述中心焊盘的直径大16mil。

一种PCB板,所述PCB板包括N个芯板,其中,N为自然数,且N≥2;第N-1张所述芯板包括3mmX3mm的第N-1标记区域和第N-1镂空区域;第N张所述芯板包括3mmX3mm的第N标记区域和第N镂空区域,所述第N-1标记区域与所述第N标记区域之间的间距设为 4mil;所述第N-1镂空区域,在第N-1张所述芯板上对应所述第1~N-2标记区域和所述第 N标记区域的区域进行镂空处理形成;所述第N镂空区域,在第N张所述芯板上对应所述第1~N-1标记区域的区域进行镂空处理形成;每一张所述芯板的标记区域的第一铜层设有中心焊盘;每一张所述芯板的标记区域的第二铜层设有中心基材圈,所述中心基材圈与所述中心焊盘的中心重合;第N-1张所述芯板和第N张所述芯板之间夹设介质层;所述PCB 板开设有通孔,所述通孔的中心与所述中心焊盘的中心重合;所述中心焊盘的直径比所述通孔的直径大12~16mil,所述中心基材圈的直径比所述中心焊盘的直径大8~16mil。

进一步,所述PCB板还包括:在第一张所述芯板的上面依次设置上介质层和上铜箔层,在第N张所述芯板的下面依次设置下介质层和下铜箔层。

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