[发明专利]电路板的双面外观检测方法

说明书

本发明涉及电路板检测技术领域，尤其涉及一种电路板的双面外观检测方法，包括如下步骤：步骤S 1：拍摄并获取电路板的第一面与第二面的图像数据；步骤S2：对第一面的图像数据获取特定位置的第一报点及对第二面的图像数据获取特定位置的第二报点；步骤S3：对第一报点进行外观缺陷判定，以确定第一报点为第一NG点或第一待确认点及对第二报点进行外观缺陷判定，以确定第二报点为第二NG点或第二待确认点；步骤S4：记录并提取第一NG点及第一待确认点的坐标以及记录并提取第二NG点及第二待确认点的坐标；步骤S5：复检。本发明的电路板的双面外观检测方法有利于降低错检、漏检的概率，具有较高的自动化程度，有利于减少工作人员的工作任务。

【技术领域】

本发明涉及电路板检测技术领域，尤其涉及一种电路板的双面外观检测方法。

【背景技术】

目前针对电路板的外观检测以人工目检为主，这种检测方法效率较低，过于依赖工作人员自身经验，检测结果不准确，漏检、错检的概率较高；即便一些摄像设备也能做到一定的外观检测，但由于检测准确度较低，使得被测量的电路板的影像与标准电路板的影像之间存在较大的差异，易因电路板存在色差、偏移、尺寸涨缩等因素导致检测结果的准确性也较低，往往还需要人工进行复查，而人工复查由于长时间工作疲劳等因素，也存在错检、漏检的概率，还浪费了一定的人力成本。

因此，现有技术存在不足，需要改进。

【发明内容】

为克服上述的技术问题，本发明提供了一种电路板的双面外观检测方法。

本发明解决技术问题的方案是提供一种电路板的双面外观检测方法，包括如下步骤：

步骤S1：拍摄并获取电路板的第一面与第二面的图像数据；

步骤S2：对第一面的图像数据获取特定位置的第一报点及对第二面的图像数据获取特定位置的第二报点；

步骤S3：对第一报点进行外观缺陷判定，以确定第一报点为第一NG点或第一待确认点及对第二报点进行外观缺陷判定，以确定第二报点为第二NG点或第二待确认点；

步骤S4：记录并提取第一NG点及第一待确认点的坐标以及记录并提取第二NG点及第二待确认点的坐标；

步骤S5：复检。

优选地，所述步骤S5还包括如下步骤：

步骤S51：对第一面的第一NG点所对应坐标及第一待确认点所对应的坐标，或仅对第一待确认点所对应的坐标进行拍摄并获取图像并进行外观缺陷判定，并最终确定第一面是否存在外观缺陷，并记录第一面存在外观缺陷的坐标；

步骤S52：对电路板进行翻面；

步骤S53：对第二面的第二NG点所对应坐标及第二待确认点所对应的坐标，或仅对第二待确认点所对应的坐标进行拍摄并获取图像并进行外观缺陷判定，并最终确定第二面是否存在外观缺陷，并记录第二面存在外观缺陷的坐标。

优选地，所述电路板的双面外观检测方法还包括如下步骤：

步骤S6：将第一面存在外观缺陷的坐标与第二面存在外观缺陷的坐标输出并整合；

步骤S7：对存在外观缺陷的电路板进行标识或检修处理。

优选地，在步骤S1中，通过AVI设备或AOI设备拍摄并获取电路板的第一面与第二面的图像数据。

优选地，在步骤S51及S53中，通过面阵相机获取高倍放大图片以获取图像。

优选地，在步骤S7中，可通过人工进行标识处理或由自动化设备进行标识处理。

优选地，在步骤S3中，对第一报点及第二报点进行统计。

优选地，在步骤S52中，通过翻转机构对电路板进行翻面。