[发明专利]一种化学机械抛光机及其操作方法在审
申请号: | 202110165328.9 | 申请日: | 2020-01-13 |
公开(公告)号: | CN112959221A | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 刘和平 | 申请(专利权)人: | 刘和平 |
主分类号: | B24B55/06 | 分类号: | B24B55/06;B24B27/00;B24B37/30;B24B37/10;H01L21/321;H01L21/67 |
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地址: | 100054 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 化学 机械 抛光机 及其 操作方法 | ||
本发明公开了一种化学机械抛光机及其操作方法,其结构包括机箱、工作台、工件放置座、密封抛光结构、机座、驱动箱,工作台水平安装于机箱上端,工件放置座嵌入安装于工作台内侧,密封抛光结构位于工件放置座正上方,密封抛光结构竖直安装于机座下端,驱动箱嵌入安装于机座内侧,密封抛光结构包括密封结构、连接座、卡板、旋转轴、活动结构,密封结构水平安装于连接座下端,旋转轴竖直安装于卡板上端,活动结构活动连接于连接座上端,本发明在连接座下端设置了密封结构,防止粉尘飘出,进而保护了工作台内侧,使工件放置座的切换更加顺畅;在连杆结构下端设置了密封板,防止粉尘飘出,并且更好的对粉尘进行收集,减少了粉尘的附着。
本申请是申请日为2020年1月13日,申请号为CN202010032450.4的发明名称为一种化学机械抛光机的分案申请。
技术领域
本发明属于化学机械领域,具体涉及到一种化学机械抛光机及其操作方法。
背景技术
在大规模的集成电路生产过程中,为了电路进行更好的导通,需要晶圆较高的平坦度,故而晶圆在完成切割后通常需要对其表面进行抛光,而对晶圆进行平坦化的技术为化学机械抛光,主要是利用化学与机械的手段进行切换抛光,以此来获得既平坦、又无划痕的晶圆,更好的适应集成电路的制作,但是现有技术存在以下不足:
由于机械抛光将与晶圆接触对工件表面进行抛光,将使工件表面的杂质被除去而产生粉尘,并且粉尘将随着设备的运转而带出,掉落在工作台上,随着时间的积累,粉尘将附着在工作台内侧,而影响设备的切换抛光,造成工作的不流畅。
以此本申请提出一种化学机械抛光机及其操作方法,对上述缺陷进行改进。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明目的是提供一种化学机械抛光机及其操作方法,以解决现有技术由于机械抛光将与晶圆接触对工件表面进行抛光,将使工件表面的杂质被除去而产生粉尘,并且粉尘将随着设备的运转而带出,掉落在工作台上,随着时间的积累,粉尘将附着在工作台内侧,而影响设备的切换抛光,造成工作的不流畅的问题。
为了实现上述目的,本发明是通过如下的技术方案来实现:一种化学机械抛光机及其操作方法,其结构包括机箱、工作台、工件放置座、密封抛光结构、机座、驱动箱,所述工作台水平安装于机箱上端并且通过螺栓固定,所述工件放置座嵌入安装于工作台内侧并且采用机械连接,所述密封抛光结构位于工件放置座正上方,所述密封抛光结构竖直安装于机座下端并且与驱动箱相连接,所述驱动箱嵌入安装于机座内侧;所述密封抛光结构包括密封结构、连接座、卡板、旋转轴、活动结构,所述密封结构水平安装于连接座下端并且位于同一轴线上,所述旋转轴竖直安装于卡板上端并且相焊接,所述活动结构活动连接于连接座上端。
对本发明进一步地改进,所述密封结构包括限位板、抛光板、侧围挡、密封腔、限制结构,所述限位板固定安装于活动结构下端,所述抛光板水平安装于限位板下端并且采用机械连接,所述侧围挡安装于连接座下端并且位于同一轴线上,所述密封腔设于侧围挡内侧并且为一体化结构,所述限制结构嵌入安装于侧围挡内侧。
对本发明进一步地改进,所述限制结构包括内槽、活动块、连杆结构、密封板,所述内槽设于侧围挡内侧并且为一体化结构,所述连杆结构嵌入安装于内槽上端,所述活动块设于内槽外侧并且与连杆结构铰链连接,所述密封板位于活动块下端并且与连杆结构铰链连接。
对本发明进一步地改进,所述连杆结构包括支架、连杆、弹簧,所述连杆安装于支架外侧并且采用铰链连接,所述弹簧设于内槽并且左端抵在连杆内侧上方,所述活动块与密封板分别安装于连杆上下两端。
对本发明进一步地改进,所述支架与连杆之间的活动角度为0-30度,支架与连杆相互垂直时为初始状态,所述连杆两端分别与活动块、密封板铰链连接。
对本发明进一步地改进,所述密封板包括板体、密封圈、通道、收集结构,所述密封圈安装于板体内侧并且相粘接,所述通道倾斜贯穿于板体内侧并且下端与收集结构上端相连通,所述收集结构嵌入安装于内槽下端。
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