[发明专利]一种利用散光调试光模块波长的方法

权利要求书

1.一种利用散光调试光模块波长的方法，所述光模块包括多个激光器、将多个激光器的光合成一路的光复用器以及与光复用器耦合的光纤适配器，其特征在于，该方法包括以下步骤：

步骤(1)固定激光器、光复用器以及光纤适配器之后，获取各个激光器的波长；

步骤(2)将获取的各个激光器的波长与对应的中心波长进行对比，获取与中心波长的差值；

步骤(3)获取各个激光器的波长与中心波长差值的平均值，根据激光器温度与波长的变化对应关系，获取与波长差值平均值对应的补偿温度；

步骤(4)根据补偿温度通过半导体制冷器对各个激光器的温度进行补偿；

所述光复用器与所述光纤适配器之间具有用于将激光器的部分光导入光纤的光汇聚元件，该方法还包括：先耦合光汇聚元件，再调试光模块波长；

各所述激光器与所述光复用器之间具有用于将激光器发出的光进行准直的准直透镜，该方法还包括：先调试光模块波长，再耦合准直透镜。

2.如权利要求1所述的利用散光调试光模块波长的方法，其特征在于，所述步骤(1)中获取各个激光器的波长的方法为：通过上位机控制各个激光器开关，通过与光纤适配器连接的光谱仪获取每个激光器的波长。

3.如权利要求1所述的利用散光调试光模块波长的方法，其特征在于：所述步骤(2)之后还包括：获取波长差值的最大值和最小值之间的差值，若差值在光通信协议要求范围内，则进行后续调试步骤，若差值在光通信协议要求范围外，则判断该光模块为不良品。

4.如权利要求1所述的利用散光调试光模块波长的方法，其特征在于：所述步骤(4)之后还包括：获取调试后的各个激光器的波长中与对应中心波长差值最大的波长，判断该波长是否满足条件，若不满足，则判断该光模块为不良品。

5.如权利要求1所述的利用散光调试光模块波长的方法，其特征在于，该方法还包括：将调试过程中的数据进行记录和保存。