[发明专利]一种利用散光调试光模块波长的方法

说明书

本发明提供了一种利用散光调试光模块波长的方法，所述光模块包括多个激光器、将多个激光器的光合成一路的光复用器以及与光复用器耦合的光纤适配器，该方法包括以下步骤：(1)固定激光器、光复用器以及光纤适配器之后，获取各个激光器的波长；(2)将获取的各个激光器的波长与对应的中心波长进行对比，获取与中心波长的差值；(3)获取各个激光器的波长与中心波长差值的平均值，根据激光器温度与波长的变化对应关系，获取与波长差值平均值对应的补偿温度；(4)根据补偿温度通过半导体制冷器对各个激光器的温度进行补偿。本发明避免增加返修成本以及时间，避免增加生产的成本和难度，调试方法简单。

技术领域

本发明属于光通信技术领域，具体涉及一种利用散光调试光模块波长的方法。

背景技术

光模块是构建光通信系统的重要组成部分，在5G通信和数据中心的发展中起着关键性作用，高速、长距离光传输设备和智能光网络的发展和应用与光电子器件技术进步息息相关，光模块的主要功能就是实现光电转换进而实现信息的传输。

利用半导体激光器可以发射不同波长的激光，进而通过调整光路来实现光信号的传输。由于光模块工作环境较为复杂，温度的变化很容易导致波长的漂移，从而影响光功率的变化，甚至可能形成串扰，干扰信息的传递。因此，通过筛选和调试激光器的波长有利于保证光模块的可靠性。

传统方法筛选激光器波长不良是通过激光器老化设备来实现，然而激光器老化设备价格昂贵，且操作精度较高，一些特殊光模块所用激光器允许的波长误差范围小(如EML、DWDM、LANWDM模块)，在老化测试过程中测的值不够准确，并且由于夹具能够导热，激光器和夹具接触不够紧密会导致测试波长不够准确，而且老化测试时间较长，增加生产的成本和难度。由于一般是在模块组装之后的测试中出现波长不良，此时模块已经贴片组装完成，返修需要拆除壳体以及更换相应材料，增加了成本和时间。此外，波长不良的激光器在耦合时会影响光功率的大小，对耦合和测试产生影响，进而影响光信号的传输。

发明内容

本发明的目的在于提供一种利用散光调试光模块波长的方法，旨在用于解决现有的筛选和调试激光器波长不良的方法成本高以及测试不准确的问题。

本发明是这样实现的：

本发明提供一种利用散光调试光模块波长的方法，所述光模块包括多个激光器、将多个激光器的光合成一路的光复用器以及与光复用器耦合的光纤适配器，该方法包括以下步骤：

(1)固定激光器、光复用器以及光纤适配器之后，获取各个激光器的波长；

(2)将获取的各个激光器的波长与对应的中心波长进行对比，获取与中心波长的差值；

(3)获取各个激光器的波长与中心波长差值的平均值，根据激光器温度与波长的变化对应关系，获取与波长差值平均值对应的补偿温度；

(4)根据补偿温度通过半导体制冷器对各个激光器的温度进行补偿。

进一步地，所述步骤(1)中获取各个激光器的波长的方法为：通过上位机控制各个激光器开关，通过与光纤适配器连接的光谱仪获取每个激光器的波长。

进一步地，所述光复用器与所述光纤适配器之间具有用于将激光器的部分光导入光纤的光汇聚元件，该方法还包括：先耦合光汇聚元件，再调试光模块波长。

进一步地，各所述激光器与所述光复用器之间具有用于将激光器发出的光进行准直的准直透镜，该方法还包括：先调试光模块波长，再耦合准直透镜。

进一步地，所述步骤(2)之后还包括：获取波长差值的最大值和最小值之间的差值，若差值在光通信协议要求范围内，则进行后续调试步骤，若差值在光通信协议要求范围外，则判断该光模块为不良品。

进一步地，所述步骤(4)之后还包括：获取调试后的各个激光器的波长中与对应中心波长差值最大的波长，判断该波长是否满足条件，若不满足，则判断该光模块为不良品。