[发明专利]测距装置以及测距方法

说明书

本发明提供一种测距装置以及测距方法。测距装置包括发光源、图像传感器以及处理器。发光源在不同时间投射多个投影图案至待测物的表面。图像传感器同步于所述多个投影图案的投射时间来感测待测物的表面，以取得分别对应于所述多个投影图案的多个感测图像。处理器分析所述多个感测图像，以决定待测物的深度信息。处理器执行三角函数计算来取得深度信息。

技术领域

本发明涉及一种测量技术，尤其涉及一种测距装置以及测距方法。

背景技术

在目前的测距技术中，飞时测距(Time of Flight；ToF)的感测手段虽可有效取得测距结果，但是实现飞时测距功能通常需要较高成本的元件与复杂的运算电路。有鉴于此，如何提供准确的测距功能且无需配置较高成本的元件与复杂的运算电路的测距装置，以下将提出几个实施例的解决方案。

发明内容

本发明是针对一种测距装置以及测距方法可有准确地取得待测物的深度信息。

根据本发明的实施例，本发明的测距装置包括发光源、图像传感器以及处理器。发光源用以在不同时间投射多个投影图案至待测物的表面。图像传感器用以同步于所述多个投影图案的投射时间来感测待测物的表面，以取得分别对应于所述多个投影图案的多个感测图像。处理器耦接发光源以及图像传感器。处理器分析所述多个感测图像，以决定待测物的深度信息。处理器执行三角函数计算来取得深度信息。

根据本发明的实施例，本发明的测距方法包括以下步骤：通过发光源在不同时间投射多个投影图案至待测物的表面；通过图像传感器同步于所述多个投影图案的投射时间来感测待测物的表面，以取得分别对应于所述多个投影图案的多个感测图像；以及分析所述多个感测图像，以决定待测物的深度信息，其中深度信息经由执行三角函数计算所产。

基于上述，本发明的测距装置以及测距方法可通过取得多个感测图像来准确分析待测物的深度信息。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是本发明的一实施例的测距装置的示意图；

图2是本发明的一实施例的测距方法的流程图；

图3A是本发明的一实施例的测距操作的示意图；

图3B是本发明的另一实施例的测距操作的示意图；

图4A是本发明的一实施例的原始参考图案的示意图；

图4B是本发明的一实施例的第一投影图案的示意图；

图4C是本发明的一实施例的第二投影图案的示意图；

图5是本发明的一实施例的测距装置的操作时序图；

图6A是本发明的一实施例的待测物表面具有障碍物的测距操作的示意图；

图6B是本发明的另一实施例的待测物表面具有障碍物的测距操作的示意图。

附图标记说明

100:测距装置；

110:处理器；

120:发光源；

130:图像传感器；

300、600:待测物；

410:原始参考图案；

411～416:条纹图案；

420:第一投影图案；

430:第二投影图案；

TD:投影时序；

TS:感测时序；