[发明专利]一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法

权利要求书

1.一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、光子计数器探头B以距离d为步进，从光子计数器探头B的左边沿点P4进入被检测物A的左边沿点P1开始，到光子计数器探头B的左边沿点P3脱离被检测物A的右边沿点P2结束；

S2、在光子计数器探头每运动步进d时，采集一次发光值，并将发光值数据记录到F[i]数组中，i为测量位置，F[i]为测量位置i的发光值数据；

S3、找出F[i]数组的最大值并将其设为F(X)；

S4、通过F(X-2)点和F(X-1)点形成直线a，通过F(X+2)点和F(X+1)点形成直线b，将直线a和直线b的交点Z的纵坐标作为最高发光值。

2.根据权利要求1所述的应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法，其特征在于，所述步骤S2中F[i]数组共有(W1+W2)/d个发光值数据，其中W1为P1点到P2点之间的距离，W2为P3点到P4点之间的距离。

3.根据权利要求1所述的应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法，其特征在于，所述步骤S4中F(X-2)点和F(X-1)点形成的直线为y＝k1*x+b1，其中k1为直线a的斜率，b1为直线a的y轴截距。

4.根据权利要求3所述的应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法，其特征在于，所述步骤S4中F(X+2)点和F(X+1)点形成的直线为y＝k2*x+b2，其中k2为直线b的斜率，b2为直线b的y轴截距。

5.根据权利要求4所述的应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法，其特征在于，所述步骤S4中最高发光值为(b2-b1)*k1)/(k1-k2)+b1或(b2-b1)*k2)/(k1-k2)+b2。

6.根据权利要求1所述的应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法，其特征在于，所述步进d的值为1mm。