[发明专利]一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法

说明书

本发明公开了一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法。本发明采用固定步进长度，连续多点读值，获取完整的关于检测位置和发光值的对应图。选取最高值左右两侧最近处的发光值各两个，两侧各连接最近处发光值构成直线，两条直线交点作为近似最高发光值。本发明为一种测量和计算方法，能自适应被检测物的随机位置，稳定地得到其近似最高发光值，减少了为确认测量位置的准确性而增加的硬件复杂设计和成本。

技术领域

本发明涉及化学发光免疫分析技术领域，具体涉及一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法。

背景技术

化学发光免疫分析仪中，使用光子计数器对被检测物进行发光值测量时，通常采用在固定位置测量一次被检测物发光值的方法。固定位置的确定一般是通过校准来实现，校准使被检测物中心，与光子计数器探头中心对准，以期获得受最少损失的最高发光值。

最简单的测量方式为开环控制，光子计数器探头或被检测物从复位位置运动到校准位置后进行发光值测量，运动过程中没有反馈信号对运动步数进行纠正，测量的位置可能出现偏差；更加普遍应用的为闭环控制，在开环控制的基础上，增加了反馈信号输入，如码盘和编码器，使每次测量前的运动步长都得到了纠正，实现了重复位置测量的要求。

如图1所示，A为被检测物，具体为产生发光的复合物液体检测窗口；B为光子计数器探头。A、B受机械部件约束，周围没有杂散光。A、B越同心，越靠近，则测得的发光值越强。

在实际测试过程中，被检测物需要被更换，更换后被检测物的位置受安放基座和被检测物承载容器之间间隙和误差影响，存在一定的偏差，使得在每次测量时，测得的发光值都在最高发光值以下。由于不能实现稳定的偏移，测得的发光值总是以不可确定的误差分布在最高发光值以下。而这样的偏移是不能通过上述的校准方法来校正的。

由此，A是会产生偏移的，即使B在控制下能重复到位，通过固定位置来测量最高发光值的方法，理论上不可能实现。

发明内容

针对现有技术中的上述不足，本发明提供的一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法解决了不能测量或计算出真实最高发光值的问题。

为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法，包括以下步骤：

S1、光子计数器探头B以距离d为步进，从光子计数器探头B的左边沿点P4进入被检测物A的左边沿点P1开始，到光子计数器探头B的左边沿点P3脱离被检测物A的右边沿点P2结束；

S2、在光子计数器探头每运动步进d时，采集一次发光值，并将发光值数据记录到F[i]数组中，i为测量位置，F[i]为测量位置i的发光值数据；

S3、找出F[i]数组的最大值并将其设为F(X)；

S4、通过F(X-2)点和F(X-1)点形成直线a，通过F(X+2)点和F(X+1)点形成直线b，将直线a和直线b的交点Z的纵坐标作为最高发光值。

进一步地：所述步骤S2中F[i]数组共有(W1+W2)/d个发光值数据，其中W1为P1点到P2点之间的距离，W2为P3点到P4点之间的距离。

进一步地：所述步骤S4中F(X-2)点和F(X-1)点形成的直线为y＝k1*x+b1，其中k1为直线a的斜率，b1为直线a的y轴截距。

进一步地：所述步骤S4中F(X+2)点和F(X+1)点形成的直线为y＝k2*x+b2，其中k2为直线b的斜率，b2为直线b的y轴截距。

进一步地：所述步骤S4中最高发光值为(b2-b1)*k1)/(k1-k2)+b1或(b2-b1)*k2)/(k1-k2)+b2。

进一步地：所述步进d的值为1mm。