[发明专利]一种作物田间出苗均匀度的评价方法及系统

权利要求书

1.一种作物田间出苗均匀度的评价方法，其特征在于，包括：

步骤1、在目标田块随机确定至少一个取样点；

步骤2、根据确定的取样点，划分取样小区；

步骤3、作物播种后，在取样小区内记录每株作物出苗所用天数，计算作物出苗天数的均匀度，采用变异系数倒数表示均匀度U；

步骤4、测量每个取样小区每行作物相邻两个植株的株距，计算植株株距的均匀度，采用变异系数倒数表示均匀度U；

步骤5、根据作物出苗天数的均匀度和株距的均匀度，得到地块出苗均匀度的评价结果；

所述步骤5中，评价结果的获取方法包括以下步骤：

步骤5.1、根据作物出苗天数的均匀度获取出苗天数评价等级；

步骤5.2、根据株距的均匀度获取株距均匀度评价等级；

步骤5.3、根据出苗天数评价等级和株距均匀度评价等级，选取最差的等级作为地块出苗均匀度的最终评价结果；

所述出苗天数评价等级和株距均匀度评价等级均为：

当U≥6.67时，测评等级为“很均匀”；

当3.33≤U＜6.67时，测评等级为“均匀”；

当2.22≤U＜3.33时，测评等级为“一般均匀”；

当U＜2.22时，测评等级为“不均匀”。

2.如权利要求1所述评价方法，其特征在于，所述步骤1中，取样点设置为9个。

3.如权利要求2所述评价方法，其特征在于，所述9个取样点的设置方法包括以下步骤：

步骤1.1、在目标田块随机选取一点作为固定取样点；

步骤1.2、以固定取样点为交点做两条垂直的直线；

步骤1.3、以交点为起点，沿直线向四个方向的射线上分别按预先设定的距离确定第一后续取样点和第二后续取样点；

所述交点到所述第一后续取样点的距离与所述第一后续取样点到所述第二后续取样点的距离相等。

4.如权利要求2所述评价方法，其特征在于，所述步骤2中，以确定的9个取样点为中心，按预设长度和宽度划出取样小区。

5.如权利要求1所述评价方法，其特征在于，所述步骤3中，作物出苗天数的均匀度的计算方法包括以下步骤：

步骤3.1、以不同颜色插牌为标记，记录每株作物出苗所用天数；

步骤3.2、根据每株作物出苗所用天数，采用均匀度计算公式计算作物出苗天数的均匀度。

6.如权利要求5所述评价方法，其特征在于，所述步骤3.1中，记录方法为：

第一天出苗的植株采用颜色一插牌标记；

第二天出苗的植株采用颜色二插牌标记；

第三天出苗的植株采用颜色三插牌标记；

以此类推，直至植株苗数不变为止，根据插牌颜色记录每株作物出苗所用天数。

7.如权利要求1所述评价方法，其特征在于，所述步骤4中，采用均匀度计算公式计算株距的均匀度。

8.一种作物田间出苗均匀度的评价系统，其特征在于，包括：取样点确定模块、取样小区划分模块、出苗天数的均匀度计算模块、株距均匀度计算模块和评价模块；

所述取样点确定模块，在目标田块随机确定至少一个取样点；

所述取样小区划分模块，根据确定的取样点，划分取样小区；

所述出苗天数的均匀度计算模块，在作物播种后，在取样小区内记录每株作物出苗所需要天数，计算作物出苗天数的均匀度，采用变异系数倒数表示均匀度U；

所述株距均匀度计算模块，测量每个取样小区每行作物相邻两个植株的株距，计算植株株距的均匀度，采用变异系数倒数表示均匀度U；

所述评价模块，根据作物出苗天数的均匀度和株距的均匀度，得到地块出苗均匀度的评价结果；

所述评价模块中，评价结果的获取方法包括以下步骤：

步骤5.1、根据作物出苗天数的均匀度获取出苗天数评价等级；

步骤5.2、根据株距的均匀度获取株距均匀度评价等级；

步骤5.3、根据出苗天数评价等级和株距均匀度评价等级，选取最差的等级作为地块出苗均匀度的最终评价结果；

所述出苗天数评价等级和株距均匀度评价等级均为：

当U≥6.67时，测评等级为“很均匀”；

当3.33≤U＜6.67时，测评等级为“均匀”；

当2.22≤U＜3.33时，测评等级为“一般均匀”；

当U＜2.22时，测评等级为“不均匀”。