[发明专利]设计规则检查方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种设计规则检查方法，其特征在于，包括：

获取设计规则检查DRC代码文件；

对所述DRC代码文件中的多段DRC代码进行解析，得到每段DRC代码对应的设计规则的衍生层信息，所述衍生层信息用于指示DRC代码的逻辑运算；

若所述两段DRC代码的逻辑运算相同，则两段DRC代码的设计规则为同种设计规则；

根据每段DRC代码对应的设计规则的类型，对解析后的所述多段DRC代码进行分类，得到每种设计规则的DRC代码段；确定每一种设计规则的DRC代码段在不同的检查区域是否存在代码冲突；

若存在代码冲突，生成代码冲突报告，所述代码冲突报告用于指示存在代码冲突的代码位置以调整代码。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述设计规则包括基于芯片中半导体结构的宽度、面积，半导体结构之间的距离、包含关系、延伸关系的至少一项设计规则。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定每一种设计规则的DRC代码段是否存在代码冲突，包括：

确定每一种设计规则的DRC代码段中同一检查项的数值范围字段是否相同，若同一检查项的数值范围字段不完全相同，确定所述DRC代码段存在代码冲突。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

确定所述多段DRC代码是否存在代码重叠，若存在代码重叠，生成代码重叠报告，所述代码重叠报告用于指示存在代码重叠的代码位置。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收DRC代码更新文件，所述DRC代码更新文件包括对存在代码冲突或代码重叠的DRC代码的更新；

根据所述DRC代码更新文件，更新所述DRC代码文件；

执行更新后的DRC代码文件，生成更新后的DRC代码文件对应的测试图形，所述测试图形用于验证芯片设计是否满足设计要求。

6.一种设计规则检查装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取设计规则检查DRC代码文件；

处理模块，用于对所述DRC代码文件中的多段DRC代码进行解析，得到每段DRC代码对应的设计规则的衍生层信息，所述衍生层信息用于指示DRC代码的逻辑运算；

若所述两段DRC代码的逻辑运算相同，则两段DRC代码的设计规则为同种设计规则；

对解析后的所述多段DRC代码进行分类，确定所述多段DRC代码是否存在代码冲突；

若存在代码冲突，生成代码冲突报告，所述代码冲突报告用于指示存在代码冲突的代码位置；

所述处理模块，具体用于：

根据每段DRC代码对应的设计规则的类型，对解析后的所述多段DRC代码进行分类，得到每种设计规则的DRC代码段；

确定每一种设计规则的DRC代码段在不同的检查区域是否存在代码冲突。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述设计规则包括基于芯片中半导体结构的宽度、面积，半导体结构之间的距离、包含关系、延伸关系的至少一项设计规则。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理模块，具体用于：

确定每一种设计规则的DRC代码段中同一检查项的数值范围字段是否相同，若同一检查项的数值范围字段不完全相同，确定所述DRC代码段存在代码冲突。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理模块，还用于：

确定所述多段DRC代码是否存在代码重叠，若存在代码重叠，生成代码重叠报告，所述代码重叠报告用于指示存在代码重叠的代码位置。