[发明专利]设计规则检查方法、装置及存储介质

说明书

本申请提供一种设计规则检查方法、装置及存储介质，应用于芯片验证领域，该方法包括：获取设计规则检查DRC代码文件，对DRC代码文件中的多段DRC代码进行解析，对解析后的多段DRC代码进行分类，确定多段DRC代码中是否存在代码冲突，若存在代码冲突，生成代码冲突报告，代码冲突报告用于指示存在代码冲突的代码位置。利用上述方法，可实现对DRC代码文件中的代码错误的快速检查和定位，辅助测试人员对DRM文件以及DRC文件的修正，提升DRC代码的执行效率，同时缩短了DRC开发的时间。

技术领域

本申请涉及芯片验证领域，尤其涉及一种设计规则检查方法、装置及存储介质。

背景技术

一般的芯片设计都是采用签核(sign off)流程，即设计数据完成时，通过设计规则检查(design rule check，DRC)，来检查当前设计是否违反设计规则。

现有方案中，通过执行设计规则检查DRC代码文件，生成测试图形，确定存在错误的测试图形，设计人员基于测试图形进行设计规则及DRC代码的优化。通常在设计之初，可能会有百万级数量的错误，设计人员需要逐个查看错误，造成芯片设计周期的延长。

发明内容

本申请提供一种设计规则检查方法、装置及存储介质，实现对DRC代码的错误检查和定位。

第一方面，本申请实施例提供一种设计规则检查方法，包括：

获取设计规则检查(DRC)代码文件；

对所述DRC代码文件中的多段DRC代码进行解析，对解析后的所述多段DRC代码进行分类，确定所述多段DRC代码是否存在代码冲突；

若存在代码冲突，生成代码冲突报告，所述代码冲突报告用于指示存在代码冲突的代码位置。

在本申请的一个实施例中，所述对解析后的所述多段DRC代码进行分类，确定所述多段DRC代码是否存在代码冲突，包括：

根据每段DRC代码对应的设计规则的类型，对解析后的所述多段DRC代码进行分类，得到每种设计规则的DRC代码段；

确定每一种设计规则的DRC代码段是否存在代码冲突。

在本申请的一个实施例中，所述设计规则包括基于芯片中半导体结构的宽度、面积，半导体结构之间的距离、包含关系、延伸关系的至少一项设计规则。

在本申请的一个实施例中，所述确定每一种设计规则的DRC代码段是否存在代码冲突，包括：

确定每一种设计规则的DRC代码段中同一检查项的数值范围字段是否相同，若同一检查项的数值范围字段不完全相同，确定所述DRC代码段存在代码冲突。

在本申请的一个实施例中，所述方法还包括：

确定所述多段DRC代码是否存在代码重叠，若存在代码重叠，生成代码重叠报告，所述代码重叠报告用于指示存在代码重叠的代码位置。

在本申请的一个实施例中，所述方法还包括：

接收DRC代码更新文件，所述DRC代码更新文件包括对存在代码冲突或代码重叠的DRC代码的更新；

根据所述DRC代码更新文件，更新所述DRC代码文件；

执行更新后的DRC代码文件，生成更新后的DRC代码文件对应的测试图形，所述测试图形用于验证芯片设计是否满足设计要求。

第二方面，本申请实施例提供一种设计规则检查装置，包括：

获取模块，用于获取设计规则检查(DRC)代码文件；