[发明专利]检测方法及装置、检测设备和存储介质

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，包括：

基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；

若存在所述缺陷，则获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；及

基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷，包括：

获取与所述待测件的图像匹配的预设模板图像；

融合处理所述预设模板图像和所述待测件的图像，以检测所述缺陷。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述融合处理所述预设模板图像和所述待测件的图像，以获取处理图像，包括：

对所述预设模板图像和所述待测件的图像进行差影处理，以得到差值图像；

计算所述差值图像的连通域，以检测所述缺陷。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述计算所述差值图像的连通域，以检测所述缺陷，包括：

识别所述差值图像中的多个光斑，并为每个所述光斑编号；

在相邻两个所述光斑的距离小于预设距离阈值时，将相邻两个所述光斑的编号修改为同一编号；

连通编号相同的所述光斑以作为所述连通域；及

在所述连通域的面积大于预设面积阈值时，确定所述连通域为所述缺陷。

5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，还包括：

若不存在所述缺陷，则确定所述待测件的图像无缺陷。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷，包括：

获取多个具有缺陷的工件的多个训练图像；

标注所述训练图像中的缺陷；

将标注前的多个所述训练图像和标注后的多个所述训练图像作为训练集，输入到目标检测模型进行训练，以获取训练至收敛的所述目标检测模型；及

根据收敛后的所述目标检测模型检测所述待测图像的缺陷。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述将标注前的多个所述训练图像和标注后的多个所述训练图像作为训练集，输入目标检测模型进行训练，以获取训练至收敛的所述目标检测模型，包括：

输入所述标注前的所述训练图像至所述目标检测模型，以输出检测结果；

将所述检测结果与标注后的所述训练图像进行比对以确定第一损失值；及

根据所述第一损失值调整所述目标检测模型，以使得目标检测模型收敛。

8.一种检测装置，其特征在于，包括：

第一检测模块，用于基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；

获取模块，用于在存在所述缺陷时，获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；

第二检测模块，用于基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。

9.一种检测设备，其特征在于，包括处理器，所述处理器用于：

基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；

在存在所述缺陷时，获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；及

基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。

10.一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行权利要求1-7任意一项所述的检测方法。