[发明专利]检测方法及装置、检测设备和存储介质

说明书

一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。检测方法包括基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；若存在所述缺陷，则获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；及基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。通过目标检测模型替代质检人员并配合模板匹配算法，不仅能够检测到待测件的所有缺陷，而且能够准确地识别出模板匹配算法过检导致的不具有缺陷的待测图像，无需浪费人力，避免了质检人员因经验少、疲劳的原因导致的检测准确性差的问题，检测效果较好。

技术领域

本申请涉及检测技术领域，特别涉及一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

背景技术

目前，基于模板匹配的缺陷检测算法在检测具有缺陷的工件的图像时，容易将图像中原本不是缺陷的部分识别为缺陷，导致大量的过检，需要质检人员逐张进行核对，不仅浪费人力，而且检测准确性受到质检人员的经验和疲劳程度的影响，检测效果较差。

发明内容

本申请提供了一种检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质。

本申请实施方式的检测方法包括基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；若存在所述缺陷，则获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；及基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。

本申请实施方式的检测装置包括第一检测模块、获取模块和第二检测模块。所述第一检测模块用于基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；所述获取模块用于在存在所述缺陷时，获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；所述第二检测模块用于基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。

本申请实施方式的检测设备包括处理器。所述处理器用于：基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；在存在所述缺陷时，获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；及基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。

本申请实施方式的一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质，当所述计算机程序被一个或多个处理器执行时，使得所述处理器执行所述检测方法。所述检测方法包括基于预设的模板匹配算法，检测待测件的图像的缺陷；若存在所述缺陷，则获取所述待测件的图像中所述缺陷所在的图像区域，以作为待测图像；及基于预设的目标检测模型，检测所述待测图像的缺陷。

本申请的检测方法、检测装置、检测设备和非易失性计算机可读存储介质，首先通过模板匹配算法检测出待测件的图像的所有缺陷，然后将待测件的图像中，缺陷所在的图像区域截取出来作为待测图像，然后将每个缺陷对应的待测图像输入到目标检测模型进行高精度的检测，以确定每个待测图像包含的缺陷的信息，通过目标检测模型替代质检人员并配合模板匹配算法，不仅能够检测到待测件的所有缺陷，而且能够准确地识别出模板匹配算法过检导致的不具有缺陷的待测图像，无需浪费人力，避免了质检人员因经验少、疲劳的原因导致的检测准确性差的问题，检测效果较好。

本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；

图2是本申请某些实施方式的检测装置的模块示意图；

图3是本申请某些实施方式的检测设备的平面示意图；

图4至图6是本申请某些实施方式的检测方法的流程示意图；