[发明专利]平行检测方法、设备、存储介质及装置有效
申请号: | 202110202682.4 | 申请日: | 2021-02-23 |
公开(公告)号: | CN113160305B | 公开(公告)日: | 2023-04-25 |
发明(设计)人: | 孟雪 | 申请(专利权)人: | 歌尔光学科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 关向兰 |
地址: | 261031 山东省潍坊市高新区清池街*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平行 检测 方法 设备 存储 介质 装置 | ||
1.一种平行检测方法,其特征在于,所述平行检测方法包括以下步骤:
在接收到平行检测指令时,获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像,所述镂空标准件与待检测模组平行设置;
在所述当前投影图像中绘制水平直线,并根据所述水平直线以及所述当前投影图像确定水平交点距离;
在所述当前投影图像中绘制竖直直线,并根据所述竖直直线以及所述当前投影图像确定竖直交点距离;
根据所述水平交点距离以及所述竖直交点距离判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行;
其中,所述根据所述水平交点距离以及所述竖直交点距离判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行的步骤之后,还包括:
在所述待检测模组与所述待检测平板不平行时,根据所述水平交点距离之间的差值以及所述竖直交点距离之间的差值确定当前移动策略;
根据所述当前移动策略控制所述待检测平板移动;
在所述待检测平板移动完成后,返回所述获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤,直至所述待检测模组与所述待检测平板平行。
2.如权利要求1所述的平行检测方法,其特征在于,所述水平交点距离包括:第一水平交点距离和第二水平交点距离;所述在所述当前投影图像中绘制水平直线,并根据所述水平直线以及所述当前投影图像确定水平交点距离的步骤,具体包括:
在所述当前投影图像中绘制水平直线,并根据所述水平直线以及所述当前投影图像确定水平投影交点;
获取所述水平投影交点的水平交点坐标;
根据所述水平交点坐标确定第一水平交点距离和第二水平交点距离。
3.如权利要求2所述的平行检测方法,其特征在于,所述竖直交点距离包括:第一竖直交点距离和第二竖直交点距离;所述在所述当前投影图像中绘制竖直直线,并根据所述竖直直线以及所述当前投影图像确定竖直交点距离的步骤,具体包括:
在所述当前投影图像中绘制竖直直线,并根据所述竖直直线以及所述当前投影图像确定竖直投影交点;
获取所述竖直投影交点的竖直交点坐标;
根据所述竖直交点坐标确定第一竖直交点距离和第二竖直交点距离。
4.如权利要求3所述的平行检测方法,其特征在于,所述根据所述水平交点距离以及所述竖直交点距离判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行的步骤,具体包括:
判断所述第一水平交点距离与所述第二水平交点距离是否相等,获得第一判断结果;
判断所述第一竖直交点距离与所述第二竖直交点距离是否相等,获得第二判断结果;
根据所述第一判断结果以及所述第二判断结果判断所述待检测模组与所述待检测平板是否平行。
5.如权利要求1-4中任一项所述的平行检测方法,其特征在于,所述在接收到平行检测指令时,获取镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤,具体包括:
在接收到平行检测指令时,获取待检测模组的当前位置信息;
根据所述当前位置信息确定镂空标准件的目标测试位置,并控制所述镂空标准件移动至所述目标测试位置;
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后,获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
6.如权利要求5所述的平行检测方法,其特征在于,所述在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后,获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像的步骤,具体包括:
在所述镂空标准件移动至所述目标测试位置后,根据预设发光策略控制所述待检测模组运行,以使所述待检测模组产生检测光源;
在所述待检测模组产生所述检测光源时,获取所述镂空标准件在待检测平板上的当前投影图像。
7.一种平行检测设备,其特征在于,所述平行检测设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的平行检测程序,所述平行检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至6中任一项所述的平行检测方法的步骤。
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