[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号： | 202110202842.5 | 申请日： | 2021-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN113466475A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 佐藤摘步实;川上理美;井口晃弘;茂手木尚哉 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 熊风;宋俊寅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置，
是对检体进行分析的自动分析装置，其特征在于，包括：
分析部，该分析部在进行用于校准的测定之后对所述检体进行分析；
存储部，该存储部存储累积数据，所述累积数据是对所述校准的测定结果进行累积而得的数据；
计算部，该计算部基于所述累积数据来计算用于判定校准的测定结果是否为异常的允许范围；以及
显示部，该显示部显示所述允许范围。
2.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述计算部使用预先指定的管理幅度来计算所述允许范围。
3.如权利要求2所述的自动分析装置，其特征在于，
所述管理幅度使用所述累积数据的标准偏差来设定。
4.如权利要求3所述的自动分析装置，其特征在于，
所述允许范围是从所述累积数据的平均值中减去所述管理幅度后而得的值到对所述平均值加上所述管理幅度后而得的值的范围。
5.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述存储部将从所述校准的测定结果中选择出的数据作为所述累积数据来存储。
6.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述计算部使用包含于预先指定的期间的累积数据来计算所述允许范围。
7.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述计算部使用用于所述校准的试剂的每个批次的累积数据来计算所述允许范围。
8.如权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
对所述校准的每个测定项目设定期间、试剂批次和管理幅度的画面显示在所述显示部上。
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