[发明专利]用于存储器装置的测试方法和测试装置的操作方法

权利要求书

1.一种用于包括多个存储器单元的存储器装置的测试方法，所述方法包括：

生成第一测试图案；

执行将所述第一测试图案写入所述多个存储器单元中的第一图案写操作；

从写入有所述第一测试图案的所述多个存储器单元读取第一数据；

基于所述第一数据生成第二测试图案；以及

执行将所述第二测试图案写入所述多个存储器单元中的第二图案写操作，

其中，所述第二测试图案被生成，使得故障信息被写入所述多个存储器单元当中的发生写故障的故障单元中。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述多个存储器单元与同一字线连接。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述多个存储器单元中的每一个存储器单元包括可变电阻元件，所述可变电阻元件包括具有根据流过所述可变电阻元件的电流的方向而变化的电阻值的磁性隧道结。

4.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一测试图案是默认测试图案，并且执行所述第二图案写操作包括：

执行将第一反转图案写入所述多个存储器单元中的回写操作，所述第一反转图案是所述默认测试图案的反转的版本；以及

执行将所述第二测试图案写入已执行所述回写操作的所述多个存储器单元中的重写操作。

5.如权利要求4所述的方法，其中，在所述回写操作或所述重写操作期间将所述故障信息写入所述多个存储器单元中的所述故障单元中。

6.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一测试图案包括所有比特值均为第一值的数据，并且

其中，所述第二测试图案包括与所述故障单元中的每一个故障单元对应的比特值是不同于所述第一值的第二值、并且与所述多个存储器单元当中的所述故障单元以外的存储器单元对应的其余的比特值是所述第一值的数据。

7.如权利要求1所述的方法，其中，生成所述第二测试图案并执行所述第二图案写操作的迭代被执行达给定次数，并且

在所述迭代期间，基于先前的图案写操作的结果生成所述第二测试图案，使得所述故障信息被写入所述故障单元中。

8.如权利要求7所述的方法，其中，所述故障单元是所述多个存储器单元当中的在所述迭代中发生写故障至少“n”次的存储器单元，其中，n是2或更大的自然数。

9.如权利要求7所述的方法，其中，所述故障单元是所述多个存储器单元当中的在所述迭代中接连发生写故障至少“n”次的存储器单元，其中，n是2或更大的自然数。

10.如权利要求7所述的方法，还包括：

在生成所述第二测试图案并执行所述第二图案写操作的迭代被执行达所述给定次数之后，从所述多个存储器单元读取最终数据；

基于所述最终数据确定所述多个存储器单元中的所述故障单元的数量并将所述故障单元的数量与参考值进行比较；以及

当所述故障单元的数量超过所述参考值时，对所述存储器装置执行修复操作或屏蔽操作。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述参考值与所述存储器装置或被配置为控制所述存储器装置的存储器控制器中包括的纠错码引擎的纠错能力对应。

12.如权利要求11所述的方法，其中，所述多个存储器单元的数量与所述纠错码引擎的纠错单位对应。