[发明专利]一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法

权利要求书

1.一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，其特征在于，包括：

提供一测试转接板，所述测试转接板上设置有调试接口、数据存储器、程序存储器和用于传输待测微系统模块信号的通道；

编写待测微系统模块中待测接口的功能测试程序并通过所述调试接口完成调试，将调试完成的所述功能测试程序固化到程序存储器中；

编写ATE测试机专用测试程序，所述专用测试程序包括上电顺序控制程序、复位触发程序、测试接口输入激励程序、测试接口输出结果监测程序和测试结果判定程序；

利用所述测试转接板将待测微系统模块与ATE测试机连接，ATE测试机根据所述上电顺序控制程序和所述复位触发程序对待测微系统模块进行上电和复位，并将程序存储器中的所述功能测试程序加载到待测微系统模块内处理器对应的数据存储器中，并利用所述测试接口输入激励程序给待测微系统模块提供激励，待测微系统模块内处理器根据激励执行相应的功能测试程序，并将执行结果发送给所述测试接口输出结果监测程序，所述测试结果判定程序根据所述测试接口输出结果监测程序的监测结果判定微系统模块AC参数是否满足要求。

2.根据权利要求1所述的一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，其特征在于，所述用于传输待测微系统模块信号的通道包括电信号通道、地信号通道、普通IO信号通道和高速IO信号通道。

3.根据权利要求1所述的一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，其特征在于，所述测试转接板上还设置有阻容网络。

4.根据权利要求1所述的一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，其特征在于，所述调试接口为JTAG调试接口。

5.根据权利要求1所述的一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，其特征在于，还包括测试插座，通过测试插座将待测微系统模块固定在所述测试转接板上。

6.根据权利要求1所述的一种基于ATE测试机的微系统模块AC参数测试方法，其特征在于，当待测微系统模块内部集成有数据存储器和程序存储器时，既可以选用待测微系统模块内部集成的数据存储器和程序存储器存储功能测试程序，也可以选用测试转接板上的数据存储器和程序存储器存储功能测试程序。