[发明专利]测试图卡的定位方法、终端及存储介质有效
申请号: | 202110227177.5 | 申请日: | 2021-03-01 |
公开(公告)号: | CN112985778B | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
发明(设计)人: | 马文芹 | 申请(专利权)人: | 歌尔科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G06T7/70;G06T7/00;G06V10/28;G06T7/13;G06T7/62;G06T7/66;G06T7/90;G06T5/00 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 梁馨怡 |
地址: | 266104 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 定位 方法 终端 存储 介质 | ||
1.一种测试图卡的定位方法,其特征在于,包括步骤:
利用测试工装上的镜头模组对测试图卡拍照,获得测试图像;
对测试图像进行二值化处理,获得二值化测试图像;
根据二值化测试图像中预设中心候选区域内的各像素点的直角坐标和灰度值,获取二值化测试图像中的中心测试图卡的顶点;
根据二值化测试图像中预设非中心候选区域内的各像素点的极坐标和灰度值,获取二值化测试图像中的非中心测试图卡的顶点;
所述根据二值化测试图像中预设非中心候选区域内的各像素点的极坐标和灰度值,获取二值化测试图像中的非中心测试图卡的顶点的步骤包括:
统计二值化测试图像中预设非中心候选区域内各极径对应的白色像素点数量;
根据白色像素点数量大于或等于预设阈值的各极径中的最小极径和最大极径,更新预设非中心候选区域的极径范围;
根据二值化测试图像中预设非中心候选区域内每一极径对应的各像素点的灰度值和极坐标,获得非中心测试图卡的多个第一边界像素点和对应的多个第二边界像素点;
按照极径从小至大的顺序分别对第一边界像素点进行排序和对第二边界像素点进行排序,生成第一边界的队列和第二边界的队列;
根据第一边界的队列中像素点的极坐标和第二边界的队列中像素点的极坐标,确定非中心测试图卡的顶点;
其中,非中心测试图卡为平行四边形的测试图卡;所述根据第一边界的队列中像素点的极坐标和第二边界的队列中像素点的极坐标,确定非中心测试图卡的顶点的步骤包括:
获取第一边界的队列和第二边界的队列中与测试图像中心点的距离最近的像素点,作为非中心测试图卡的第一顶点;
根据第一边界的队列中第一边界像素点的极坐标,获取非中心测试图卡的第二顶点,其中,非中心测试图卡的第二顶点的极径大于第一顶点的极径;
根据第二边界的队列中第二边界像素点的极坐标,获取非中心测试图卡的第三顶点,其中,非中心测试图卡的第三顶点的极径大于第一顶点的极径;
对第一边界的队列中大于或等于第二顶点的极径的第一边界像素点进行线性拟合,获得第一直线;
对第二边界的队列中大于或等于第二顶点的极径的第一边界像素点进行线性拟合,获得第二直线;
将第一直线和第二直线的交点作为非中心测试图卡的第四顶点,其中,非中心测试图卡的第四顶点的极径均大于第二顶点和第三顶点的极径。
2.根据权利要求1所述的测试图卡的定位方法,其特征在于,所述根据二值化测试图像中预设中心候选区域内的各像素点的直角坐标和灰度值,获取二值化测试图像中的中心测试图卡的顶点的步骤包括:
统计二值化测试图像中预设中心候选区域内各列对应的白色像素点数量,其中,白色像素点的灰度值为255;
根据白色像素点数量大于或等于预设阈值的各列中的最小纵坐标值和最大纵坐标值,更新预设中心候选区域的纵坐标范围;
根据二值化测试图像中预设中心候选区域内每一行对应的各像素点的灰度值和直角坐标,确定中心测试图卡在每一行的边界起始点和边界结束点;
根据中心测试图卡在各行的边界起始点和边界结束点,进行中心测试图卡的轮廓多边形拟合,获得中心测试图卡轮廓;
根据中心测试图卡轮廓上的像素点的直角坐标,获得中心测试图卡的顶点。
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