[发明专利]触控基板及其检测方法、触控屏及其制作方法

权利要求书

1.一种触控基板，其特征在于，所述触控基板包括触控区、位于所述触控区两侧的测试区以及位于所述测试区与所述触控区之间的切割区；

所述触控基板包括位于所述触控区内的多个触控电极、与所述触控电极电连接且位于所述切割区内的多个电连接构件、位于所述测试区内的多个电连接构件，多个触控电极沿第一方向延伸以及沿第二方向间隔设置的触控电极，所述第一方向与所述第二方向垂直设置，一测试端子通过所述电连接构件与相邻两个所述触控电极连接；

所述触控基板还包括位于所述触控区第一侧的第一测试子区和位于所述触控区第二侧的第二测试子区；

所述测试区内设置有n个所述测试端子，第2k-1个所述测试端子位于所述第一测试子区内，第2k个所述测试端子位于所述第二测试子区内；

所述触控区内设置有沿所述第二方向间隔设置的n+1个所述触控电极，第2k-1和第2k个所述触控电极通过第2k-1个所述测试端子电连接，第2k和第2k+1个所述触控电极通过第2k个所述测试端子电连接；n和k为正整数，n大于或等于2k；

所述测试区内还设置有与第1个所述触控电极电连接的第一连接测试端子和与第n+1个所述触控电极电连接的第二连接测试端子，所述第一连接测试端子及所述第二连接测试端子通过外接器件形成串联回路。

2.根据权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述电连接构件包括连续的第一连接段和第二连接段，所述第一连接段与所述触控电极连接，所述第二连接段与所述测试端子连接；

其中，在与同一所述测试端子电连接的两个所述电连接构件中，相邻两个所述第二连接段的间距大于相邻两个所述触控电极的间距。

3.根据权利要求2所述的触控基板，其特征在于，在所述第一连接段朝向所述第二连接段的方向上，所述第一连接段的宽度逐渐减小，所述第一连接段的最大宽度与所述触控电极的宽度相等，所述第一连接段的最小宽度与所述第二连接段的宽度相等。

4.根据权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述电连接构件包括非连续的第一连接段和第二连接段以及位于所述第二连接段上的电性开关，所述第一连接段与所述触控电极连接，所述第二连接段与所述测试端子连接，所述电性开关用于控制所述第一连接段与所述第二连接段的电性连接和绝缘连接。

5.一种触控基板的检测方法，其特征在于，包括：

提供如权利要求1～4任一项所述的触控基板；所述触控基板包括触控区、位于所述触控区两侧的测试区以及位于所述测试区与所述触控区之间的切割区；其中，所述触控基板包括：位于所述触控区内的多个沿第一方向延伸以及沿第二方向间隔设置的触控电极，所述第一方向与所述第二方向垂直设置；位于所述切割区内的多个电连接构件，所述电连接构件与所述触控电极电连接；位于所述测试区内的多个测试端子；一所述测试端子通过所述电连接构件与相邻两个所述触控电极连接；

通过外接电源使所述触控基板上的多个所述触控电极、多个所述电连接构件及多个所述测试端子形成串联回路；

通过检测构件获取第a个所述测试端子和第b个所述测试端子之间的测量电压；

当所述测量电压为0V时，则第a个所述测试端子和第b个所述测试端子之间的所述触控电极开路；

当所述测量电压大于第一阈值电压或者小于第二阈值电压时，则第a个所述测试端子和第b个所述测试端子之间的所述触控电极短路；

其中，a和b为正整数，a小于或等于b，b小于或等于n+1。

6.一种触控屏的制作方法，所述触控屏包括显示面板及位于所述显示面板上的触控构件，其特征在于，所述触控屏的制作方法包括：

提供如权利要求1～4任一项所述的触控基板；

利用预定工艺沿所述触控基板中所述切割区内的切割线对所述触控基板切割，以形成所述触控构件；

将所述触控构件与所述显示面板对位贴合。