[发明专利]触控基板及其检测方法、触控屏及其制作方法

说明书

本申请提出了一种触控基板及其检测方法、触控屏及其制作方法，该触控基板包括触控区、测试区以及切割区；其中，该触控基板包括位于该触控区内的多个触控电极；位于该测试区内的多个测试端子，一该测试端子与相邻两个该触控电极连接；位于该切割区内的多个电连接构件，一该电连接构件与一该触控电极对应，该触控电极通过该电连接构件与该测试端子电连接，多个该触控电极通过对应的该电连接构件及该测试端子形成串联电路；在检测时，外接电源使该串联电路形成串联回路，通过检测构件获取该串联回路中任意两个测试端子之间的测量电压，以判定该触控电极的异常，缓解了现有大尺寸触控屏因端子面积过小而无法准确进行触控测试的技术问题。

技术领域

本申请涉及显示领域，特别涉及一种触控基板及其检测方法、触控屏及其制作方法。

背景技术

随着显示技术的发展，大尺寸显示面板上对于触控的需求越来越大，另外触摸屏所具有得高灵敏度、低延迟及窄边框等优点也逐渐成为大尺寸触控屏的趋势。

对于大尺寸触控屏，在进行柔性电路板的绑定之前，需要对所有的通道进行开路与短路测试，以保证触控的正常运行。传统的通道测试是对触控电极两端的绑定端子进行扎针测试，而现有的大尺寸触控屏由于通道数较多，导致端子面积较小，扎针测试设备的精度很难保证每个端子被准确连通，可靠性低，无法进行准确的触控测试。

目前，亟需一种触控基板及其检测方法以解决上述技术问题。

发明内容

本申请提供一种触控基板及其检测方法、触控屏及其制作方法，以缓解现有大尺寸触控屏因端子面积过小而无法准确进行触控测试的技术问题。

为解决上述问题，本申请提供的技术方案如下：

本申请提供了一种触控基板，其特征在于，所述触控基板包括触控区、位于所述触控区两侧的测试区以及位于所述测试区与所述触控区之间的切割区；

其中，所述触控基板包括：

位于所述触控区内的多个沿第一方向延伸以及沿第二方向间隔设置的触控电极，所述第一方向与所述第二方向垂直设置；

位于所述切割区内的多个电连接构件，所述电连接构件与所述触控电极电连接；

位于所述测试区内的多个测试端子；一所述测试端子通过所述电连接构件与相邻两个所述触控电极连接。

在本申请的触控基板中，所述电连接构件包括连续的第一连接段和第二连接段，所述第一连接段与所述触控电极连接，所述第二连接段与所述测试端子连接；

其中，在与同一所述测试端子电连接的两个所述电连接构件中，相邻两个所述第二连接段的间距大于相邻两个所述触控电极的间距。

在本申请的触控基板中，在所述第一连接段朝向所述第二连接段的方向上，所述第一连接段的宽度逐渐减小，所述第一连接段的最大宽度与所述触控电极的宽度相等，所述第一连接段的最小宽度与所述第二连接段的宽度相等。

在本申请的触控基板中，所述电连接构件包括非连续的第一连接段和第二连接段以及位于所述第二连接段上的电性开关，所述第一连接段与所述触控电极连接，所述第二连接段与所述测试端子连接，所述电性开关用于控制所述第一连接段与所述第二连接段的电性连接和绝缘连接。

在本申请的触控基板中，所述触控基板还包括位于所述触控区第一侧第一测试子区和位于所述触控区第二侧的第二测试子区；

所述测试区内设置有n个所述测试端子，第2k-1个所述测试端子位于所述第一测试子区内，第2k个所述测试端子位于所述第二测试子区内；

所述触控区内设置有沿所述第二方向间隔设置的n+1个所述触控电极，第2k-1和第2k个所述触控电极通过第2k-1个所述测试端子电连接，第2k和第2k+1个所述触控电极通过第2k个所述测试端子电连接；