[发明专利]基于二维材料的用于3D集成的选通器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110248349.7 申请日: 2021-03-08
公开(公告)号: CN113517392A 公开(公告)日: 2021-10-19
发明(设计)人: 陈琳;王天宇;孟佳琳;何振宇;孙清清;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;陆尤
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 二维 材料 用于 集成 器件 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,包括:

石墨烯二维材料层,作为底电极;

BN二维材料层,作为功能层;

顶电极阵列,包括多条以一定间隔排列的线状顶电极。

2.根据权利要求1所述的基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,所述石墨烯二维材料层的厚度为20nm~70nm。

3.根据权利要求1所述的基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,所述BN二维材料层的厚度为10nm~70nm。

4. 根据权利要求1所述的基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,所述线状顶电极的材料为Ag或Cu,宽度为2μm~20μm,厚度为 20nm~70nm。

5.一种基于二维材料的用于3D集成的选通器件的制备方法,其特征在于,具体步骤为:

采用机械剥离方法制备石墨烯二维材料层,作为底电极;

将BN二维材料层转移至所述石墨烯二维材料层上,作为功能层;

形成多条以一定间隔排列的线状顶电极,作为顶电极阵列。

6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述石墨烯二维材料层的厚度为20nm~70nm。

7.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述BN二维材料层的厚度为10nm~70nm。

8. 根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述线状顶电极的材料为Ag、Cu,宽度为2μm~20μm,厚度为 20nm~70nm。

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