[发明专利]基于二维材料的用于3D集成的选通器件及其制备方法在审
申请号: | 202110248349.7 | 申请日: | 2021-03-08 |
公开(公告)号: | CN113517392A | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 陈琳;王天宇;孟佳琳;何振宇;孙清清;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 二维 材料 用于 集成 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,包括:
石墨烯二维材料层,作为底电极;
BN二维材料层,作为功能层;
顶电极阵列,包括多条以一定间隔排列的线状顶电极。
2.根据权利要求1所述的基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,所述石墨烯二维材料层的厚度为20nm~70nm。
3.根据权利要求1所述的基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,所述BN二维材料层的厚度为10nm~70nm。
4. 根据权利要求1所述的基于二维材料的用于3D集成的选通器件,其特征在于,所述线状顶电极的材料为Ag或Cu,宽度为2μm~20μm,厚度为 20nm~70nm。
5.一种基于二维材料的用于3D集成的选通器件的制备方法,其特征在于,具体步骤为:
采用机械剥离方法制备石墨烯二维材料层,作为底电极;
将BN二维材料层转移至所述石墨烯二维材料层上,作为功能层;
形成多条以一定间隔排列的线状顶电极,作为顶电极阵列。
6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述石墨烯二维材料层的厚度为20nm~70nm。
7.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述BN二维材料层的厚度为10nm~70nm。
8. 根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述线状顶电极的材料为Ag、Cu,宽度为2μm~20μm,厚度为 20nm~70nm。
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