[发明专利]点云表面波纹去除方法、装置、终端及存储介质有效
申请号: | 202110263098.X | 申请日: | 2021-03-11 |
公开(公告)号: | CN112907480B | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
发明(设计)人: | 赵勇;钱浩;林昌伟;龚月 | 申请(专利权)人: | 北京格灵深瞳信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人: | 马军芳;张艳 |
地址: | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 表面 波纹 去除 方法 装置 终端 存储 介质 | ||
1.一种点云表面波纹去除方法,其特征在于,包括:
获取点云波纹的波长;
根据滑动平均滤波及所述点云数据的波长得到点云的第一深度变化矩阵;
对所述第一深度变化矩阵进行深度低通滤波,得到的第二深度变化矩阵,根据所述第二深度变化矩阵确定去除表面波纹后的点云;
所述获取点云波纹的波长,包括:
获取具有波纹的点云数据;
从点云中选取物件的平面,在选取的平面上按照波纹波长方向选取多个点;
利用后向差分的方法,在波长方向得到每个选取点的导数,选取导数符号变化处的点;
确定所述导数符号变化处的点在波长方向上的均值距离,根据所述均值距离确定点云波纹的波长。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在选取的平面上按照波纹波长方向选取多个点时,选取的点包括至少5个完整的波纹。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据滑动平均滤波及所述点云数据的波长得到点云的第一深度变化矩阵,包括:
将点云投影到深度图上,得到原始深度图;
根据所述原始深度图,在波纹方向上,利用滑动平均滤波及所述点云数据的波长,确定滑动平均滤波后各个点的第一深度值;
根据所述第一深度值及采集的当前点的第二深度值确定深度变化量,根据各个点的所述深度变化量得到第一深度变化量矩阵。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述第一深度变化矩阵进行深度低通滤波,得到的第二深度变化矩阵,根据所述第二深度变化矩阵确定去除表面波纹后的点云,包括:
根据具有固定阈值的低通滤波器对所述第一深度变化矩阵中每个点的深度变化量进行处理,得到第二深度变化矩阵;
将所述第二深度变化矩阵叠加至所述原始深度图中;
将叠加后的深度图变换到点云。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一深度变化矩阵进行深度低通滤波,包括:
根据如下公式进行深度低通滤波,
其中,d(i)表示第i个点的深度,c表示阈值。
6.一种点云表面波纹去除装置,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取点云波纹的波长;
第一处理模块,用于根据滑动平均滤波及所述点云数据的波长得到点云的第一深度变化矩阵;
第二处理模块,用于对所述第一深度变化矩阵进行深度低通滤波,得到的第二深度变化矩阵,根据所述第二深度变化矩阵确定去除表面波纹后的点云;
所述获取模块具体用于:
获取具有波纹的点云数据;
从点云中选取物件的平面,在选取的平面上按照波纹波长方向选取多个点;
利用后向差分的装置,在波长方向得到每个选取点的导数,选取导数符号变化处的点;
确定所述导数符号变化处的点在波长方向上的均值距离,根据所述均值距离确定点云波纹的波长。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,在选取的平面上按照波纹波长方向选取多个点时,选取的点包括至少5个完整的波纹。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述第一处理模块具体用于:
将点云投影到深度图上,得到原始深度图;
根据所述原始深度图,在波纹方向上,利用滑动平均滤波及所述点云数据的波长,确定滑动平均滤波后各个点的第一深度值;
根据所述第一深度值及采集的当前点的第二深度值确定深度变化量,根据各个点的所述深度变化量得到第一深度变化量矩阵。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述第二处理模块具体用于:
根据具有固定阈值的低通滤波器对所述第一深度变化矩阵中每个点的深度变化量进行处理,得到第二深度变化矩阵;
将所述第二深度变化矩阵叠加至所述原始深度图中;
将叠加后的深度图变换到点云。
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