[发明专利]点云表面波纹去除方法、装置、终端及存储介质

说明书

本申请实施例提供一种点云表面波纹去除方法、装置、终端及存储介质，涉及质量检测技术。其中，点云表面波纹去除方法，其特征在于，包括：获取点云波纹的波长；根据滑动平均滤波及所述点云数据的波长得到点云的第一深度变化矩阵；对所述第一深度变化矩阵进行深度低通滤波，得到的第二深度变化矩阵，根据所述第二深度变化矩阵确定去除表面波纹后的点云。如此，本申请能够快速的去除因机械震动造成的点云表面波纹，且对点云的分辨率的影响较小，利于确保点云的精度。

技术领域

本申请涉及质量检测技术，尤其是涉及一种点云表面波纹去除方法、装置、终端及存储介质。

背景技术

采用激光扫描等技术获取的离散点云数据常常包含有并不需要的噪声信息，比如树木、植被、行人及过往车辆等；这些噪声信息不但会占用存储空间，还会给后期数据处理带来不便，比如影响配准速度，降低三维建模的精度等。因此，有必要对获取的点云数据进行处理，剔除噪声信息，分离出目标实体，这一过程被称为点云滤波。

相关技术中，点云滤波方案采用的大多为直通滤波、体素栅格滤波、统计离群点滤波、条件滤波等方案。这些滤波方案大致分为两类：一类主要作用为去除点云的离群点，保留点云对象的主体部分；另一类通过降采样的方式减少点云噪声。对于由于机械震动造成的点云表面波纹的情况，第一种去除点云的离群点的方案无法去除表面波纹，第二种降采样的方案在采样格栅设计合理的情况下能够去除，但会大大降低点云的分辨率，造成精度的丢失。

发明内容

为了解决上述技术缺陷之一，本申请实施例中提供了一种点云表面波纹去除方法、装置、终端及存储介质。

本申请第一方面实施例提供一种点云表面波纹去除方法，包括：

获取点云波纹的波长；

根据滑动平均滤波及所述点云数据的波长得到点云的第一深度变化矩阵；

对所述第一深度变化矩阵进行深度低通滤波，得到的第二深度变化矩阵，根据所述第二深度变化矩阵确定去除表面波纹后的点云。

本申请第二方面实施例提供一种点云表面波纹去除装置，包括：

获取模块，用于获取点云波纹的波长；

第一处理模块，用于根据滑动平均滤波及所述点云数据的波长得到点云的第一深度变化矩阵；

第二处理模块，用于对所述第一深度变化矩阵进行深度低通滤波，得到的第二深度变化矩阵，根据所述第二深度变化矩阵确定去除表面波纹后的点云。

本申请第三方面实施例提供一种终端，包括：

存储器；能够支持处理器读取带有波纹的原始点云的设备，同时支持处理器将通过前述任一项所述的方法处理后的点云数据进行存储。

处理器；能够从存储器中读入原始点云，并根据前述任一项所述的方法对点云进行处理，得到滤波后的点云数据。

计算机程序；存储在所述存储器中，能够通过计算机语言实现前述任一项所述的方法的功能，完成编译，并能够在处理器中快速运行。

本申请第四方面实施例提供一种，计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序；所述计算机程序被处理器执行以实现如前述任一项所述的方法。

本申请实施例提供一种点云表面波纹去除方法、装置、终端及存储介质，通过测量点云表面波纹的波长，利用带距离阈值限制的滑动平均滤波方法，并行化的去除点云表面波纹，从而能够快速的去除因机械震动造成的点云表面波纹，且对点云的分辨率的影响较小，利于确保点云的精度。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：