[发明专利]芯片测试方法、系统及可读存储介质

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括上位机和测试板，所述测试板上搭载有基础芯片；

所述芯片测试方法包括步骤：

S100，建立所述基础芯片与所述上位机之间的通信连接，并向所述基础芯片下载预定的功能程序，形成待测芯片；

S200，所述上位机在接收到对内核支持文件库中各文件和对测试验证程序库中各功能测试模块进行选择的选择指令时，根据所述选择指令选择配置对应的内核支持文件以及测试验证程序，并将所述内核支持文件和所述测试验证程序添加至固有程序模块，形成与所述待测芯片对应的测试程序；

S300，所述上位机在接收到下载指令时，将所述测试程序下发到所述待测芯片，并在接收到配置参数时，将所述配置参数生成为测试用例；

S400，所述待测芯片基于接收到的启动指令驱动所述测试程序和所述功能程序运行，并接收所述上位机下发的测试用例；

S500，所述待测芯片根据所述测试用例，启动所述测试程序内所述测试验证程序的测试任务，对所述待测芯片运行所述功能程序实现的功能进行测试。

2.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述选择指令包括用于选择内核支持文件的第一选择指令，所述步骤S200包括：

S210，所述上位机在接收到对内核支持文件库中各文件进行选择的第一选择指令时，查找所述内核支持文件库的各文件中是否存在与所述第一选择指令对应的内核支持文件，若是则执行步骤S220，若否则执行步骤S230；

S220，选择所述内核支持文件，并将选择的所述内核支持文件添加到所述固有程序模块；

S230，输出对所述内核支持文件库进行更新的第一提示信息。

3.根据权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述选择指令包括用于选择测试验证程序的第二选择指令，所述步骤S200包括：

S240，所述上位机在接收到对测试验证程序库中各功能测试模块进行选择的第二选择指令时，查找所述测试验证程序库的配置文件中是否记录有与所述第二选择指令对应的选择信息，若是则执行步骤S250，若否则执行步骤S260；

S250，基于测试验证程序库的配置文件查找与所述第二选择指令对应的所有功能测试模块，将所述所有功能测试模块配置为所述测试验证程序，并将所述测试验证程序添加到所述固有程序模块；

S260，输出对所述测试验证程序库进行更新的第二提示信息。

4.根据权利要求3所述的芯片测试方法，其特征在于，在所述步骤S250中：

所述上位机接收对所述所有功能测试模块中任意一项功能测试模块的调整信息，根据所述调整信息对所述任意一项功能测试模块进行调整，并将调整后的所述功能测试模块配置为所述测试验证程序，其中，调整包括新增调整、删除调整和替换调整。

5.根据权利要求1-4任一项所述的芯片测试方法，其特征在于，所述固有程序模块包括解析配置模块、打包上报模块、中央控制模块和测试任务模块。

6.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤S500包括：

所述待测芯片基于所述解析配置模块对所述测试用例进行解析，获得所述测试用例中的待测任务类型和待测任务参数；

所述待测芯片基于所述中央控制模块控制所述测试验证程序中与所述待测任务类型对应的测试任务进行启动，并基于所述解析配置模块将所述待测任务参数加载到启动的所述测试任务中，以及基于所述测试任务模块执行所述测试任务，对所述待测芯片运行所述功能程序的功能进行测试。

7.根据权利要求5所述的芯片测试方法，其特征在于，所述步骤S500之后，所述方法还包括：

所述待测芯片基于所述打包上报模块将测试获得的测试结果上传到所述上位机；

所述上位机对所述测试结果进行解析，获得解析结果，并将所述配置参数中与所述解析结果对应的待测参数和所述解析结果一并保存。