[发明专利]芯片测试方法、系统及可读存储介质

说明书

本发明提供一种芯片测试方法、系统及可读存储介质，系统包括上位机和测试板，测试板上搭载有基础芯片；方法包括：建立基础芯片与上位机之间的通信连接，并向基础芯片下载预定的功能程序，形成待测芯片；上位机将从内核支持文件库和测试验证程序库中选择配置的内核支持文件和测试验证程序，添加到固有程序模块，形成与待测芯片对应的测试程序下发到待测芯片，并在接收到配置参数时，将配置参数生成为测试用例；待测芯片驱动测试程序和功能程序运行，并根据上位机下发的测试用例，启动测试程序内测试验证程序的测试任务，对待测芯片运行功能程序实现的功能进行测试。本发明提高了测试代码的生成效率，有利于快速实现芯片设计的完整性验证。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体涉及一种芯片测试方法、系统及可读存储介质。

背景技术

随着电子技术的发展，诸如现场可编程门阵列(FPGA)之类芯片的应用越来越广泛。并且，在芯片设计过程中，常常会将芯片的功能编写成代码烧录到芯片中验证芯片设计的功能完整性。但在现有的芯片设计功能验证中，由于不同类型芯片所具有的功能不同，导致用于测试的功能代码也不同；同时不同的代码编写人员，对于代码编写的方式也千差万别，难以互相兼容。如此一来，对于不同类型的新开发芯片，通常需要编写新的测试代码，导致耗费大量精力在代码编写上；并且，对不同类型芯片测试过程中的安装拆卸和记录操作，也需要耗费大量的时间精力，使得测试验证的耗时和工作量被大大增加。

因此，如何提供一种能够面对不同的芯片快速产生测试代码，降低芯片设计过程中测试验证的耗时和工作量，以快速实现不同类型芯片设计完整性验证成为本领域亟待解决的问题。

发明内容

基于上述现状，本发明的主要目的在于提供一种芯片测试方法、系统及可读存储介质，以通过配置得到测试程序对下载不同功能程序形成不同类型的待测芯片进行测试，实现快速生成测试代码进行各类型芯片的完整性验证，提高测试验证的效率。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种芯片测试方法，应用于芯片测试系统，所述芯片测试系统包括上位机和测试板，所述测试板上搭载有基础芯片；

所述芯片测试方法包括步骤：

S100，建立所述基础芯片与所述上位机之间的通信连接，并向所述基础芯片下载预定的功能程序，形成待测芯片；

S200，所述上位机在接收到对内核支持文件库中各文件和对测试验证程序库中各功能测试模块进行选择的选择指令时，根据所述选择指令选择配置对应的内核支持文件以及测试验证程序，并将所述内核支持文件和所述测试验证程序添加至固有程序模块，形成与所述待测芯片对应的测试程序；

S300，所述上位机在接收到下载指令时，将所述测试程序下发到所述待测芯片，并在接收到配置参数时，将所述配置参数生成为测试用例；

S400，所述待测芯片基于接收到的启动指令驱动所述测试程序和所述功能程序运行，并接收所述上位机下发的测试用例；

S500，所述待测芯片根据所述测试用例，启动所述测试程序内所述测试验证程序的测试任务，对所述待测芯片运行所述功能程序实现的功能进行测试。

优选地，所述选择指令包括用于选择内核支持文件的第一选择指令，所述步骤S200包括：

S210，所述上位机在接收到对内核支持文件库中各文件进行选择的第一选择指令时，查找所述内核支持文件库的各文件中是否存在与所述第一选择指令对应的内核支持文件，若是则执行步骤S220，若否则执行步骤S230；

S220，选择所述内核支持文件，并将选择的所述内核支持文件添加到所述固有程序模块；

S230，输出对所述内核支持文件库进行更新的第一提示信息。