[发明专利]利用嵌入离散动态事件树改进核电厂安全性能分析的方法有效
申请号: | 202110268235.9 | 申请日: | 2021-03-12 |
公开(公告)号: | CN113051722B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 王贺;汪良军;徐安琪;刘铭;李磊;孙大彬;陈思娟 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工程大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06Q10/06 |
代理公司: | 北京东正专利代理事务所(普通合伙) 11312 | 代理人: | 刘瑜冬 |
地址: | 150001 黑龙江*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 嵌入 离散 动态 事件 改进 核电厂 安全 性能 分析 方法 | ||
1.利用嵌入离散动态事件树改进核电厂安全性能分析的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、根据核电厂需要分析的安全问题,确定DETRIA配置文件输出的根节点信息,并将根节点信息加入DET仿真模型中,即按照确定论安全分析方法构建用于RELAP5的输入文件“*.i”文件;
S2、构建DET仿真模型中用于RELAP5启动模块的DETRIA-D模块,以实现RELAP5程序的启动调用与计算分析;
S3、构建DET仿真模型的DETRIA-E模块,基于DET节点信息,DETRIA-E模块用以实现多变量DET分支策略;并且DETRIA-E模块将DET节点中的模型文件作为DETRIA-D模块的输入,实现RELAP5程序的启动调用,生成得到RELAP5对应计算模型的输出文件和再启动文件,并解析输出文件中DET仿真对象状态控制TRIP变量变化的时间信息;
S4、构建DET仿真模型中用于RELAP5软件数据提取模块的DETRIA-B模块,将步骤S3中的RELAP5对应计算模型的输出文件作为DETRIA-B模块的输入,DETRIA-B模块提取输出文件的小编辑数据、TRIP数据和再启动数据,并给予TRIP数据对DET仿真对象状态转移发生的DET分支时刻进行识别;
S5、构建DET仿真模型中用于RELAP5软件文件管理模块的DETRIA-C模块,根据是否检测到DET分支时刻,将DETRIA-B模块的输出文件输入DETRIA-C模块中,DETRIA-C模块依据DET仿真模型的分支规则获取RELAP5程序回溯再启动的RELAP5再启号;确定DET仿真对象状态转移类型,更新RELAP5程序计算的再启动输入文件,并生成用于DET成功分支和失败分支或者运行失效分支的RELAP5程序计算的再启动输入文件;
S6、构建DET仿真模型中用于RELAP5软件基本接口模块的DETRIA-A模块,以DETRIA-C模块的输出文件为DETRIA-A模块的输入,DETRIA-A模块依据DET分支时刻确定RELAP5程序回溯再启动时间,并以生成的DET成功分支和DET失败分支或者运行失效分支的RELAP5程序计算的再启动输入文件,及当次仿真时间步长RELAP5计算结果文件为输入,回溯执行RELAP5程序,以完成DET成功分支和DET失败分支或者DET运行失效分支的下一个仿真时间步长的模拟,并将DET成功分支和DET失败分支或者DET运行失效分支的节点信息添加进DET仿真队列;
S7、构建DET仿真模型中RELAP5软件后处理模块的DETRIA-F模块,DETRIA-F模块将DET仿真模型各完整分支序列的数据合并于同一数据文件中,供后续数据处理。
2.根据权利要求1所述的利用嵌入离散动态事件树改进核电厂安全性能分析的方法,其特征在于,在步骤S6中,所述DETRIA-A模块包括以下4个子功能模块:
①、DETRIA-A-1子模块是RELAP5程序再启动卡生成接口;
②、DETRIA-A-2模块是通用文件复制接口;
③、DETRIA-A-3模块是RELAP5输入文件变量修改接口;
④、DETRIA-A-4模块是RELAP5输入文件中trip逻辑控制接口。
3.根据权利要求1所述的利用嵌入离散动态事件树改进核电厂安全性能分析的方法,其特征在于,步骤S1的具体实现方法如下:
第1步:基于DETRIA配置文件输出的根节点信息,将根节点信息加入到DET仿真模型中;
第2步:依据构建的DET仿真模型,假定需要模拟的事故RELAP5输入文件为DET.i,
第3步:根据确定论安全分析方法编写DET.i文件;且DET.i文件中再启动卡信息包括100卡号的信息、103卡号的信息及201卡号的信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工程大学,未经哈尔滨工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110268235.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。