[发明专利]一种照明光路、缺陷检测装置及光强测量方法

权利要求书

1.一种照明光路，应用于缺陷检测装置中，其特征在于，所述照明光路包括光源和斜射光路，所述斜射光路的末端设有用于测量光强的光强测量装置，所述光强测量装置包括探头和探头支架；

所述探头安装于所述探头支架上，所述探头支架位于所述斜射光路的末端；

所述探头支架与一驱动件相连，所述驱动件用于控制所述探头支架的转向；

当所述缺陷检测装置处于工作状态时，在所述驱动件的作用下，所述探头偏离所述照明光路；

当需要测量所述斜射光路的末端的光强时，在所述驱动件的作用下，所述光源发射的光线能够经所述斜射光路达到所述探头。

2.根据权利要求1所述的照明光路，其特征在于，所述驱动件与一电磁阀相连，所述电磁阀用于控制所述驱动件的工作状态。

3.根据权利要求1所述的照明光路，其特征在于，所述光源为激光发射器。

4.根据权利要求1所述的照明光路，其特征在于，所述探头支架上设有用于安装所述测量镜头的第一卡槽。

5.根据权利要求4所述的照明光路，其特征在于，所述探头支架靠近所述第一卡槽的边缘均设有第二卡槽，所述第二卡槽的开口朝向所述第一卡槽，所述第二卡槽用于供所述探头的边缘卡入。

6.根据权利要求4所述的照明光路，其特征在于，所述光强测量装置还包括与所述探头支架可拆卸式相连的卡块，所述卡块设于所述第一卡槽的开口所在位置处。

7.根据权利要求1所述的照明光路，其特征在于，所述光强测量装置还包括与所述探头通信连接的测量机身，所述测量机身上设有显示屏。

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括如权利要求1至7中任一项所述的照明光路。

9.一种如权利要求1至7中任一项所述的照明光路的光强测量方法，其特征在于，所述光强测量方法包括：

接收测量光强的指令；

控制所述驱动件带动所述探头支架转动，以使得所述探头位于所述照明光路上；

所述探头接收通过所述斜射光路的光线，以测量所述斜射光路的末端的光强。

10.根据权利要求9所述的照明光路的光强测量方法，其特征在于，所述光强测量方法还包括：

将测得的所述斜射光路的末端的光强进行显示。