[发明专利]一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备在审
申请号: | 202110275125.5 | 申请日: | 2021-03-15 |
公开(公告)号: | CN112882946A | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 陈岚;郭潇蔚;王志鹏 | 申请(专利权)人: | 中科芯云微电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 陈志海 |
地址: | 266101 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pdk 测试 优化 方法 装置 存储 介质 设备 | ||
1.一种PDK测试的优化方法,其特征在于,包括:
从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息;
对所述参数化单元的属性信息进行代码编辑,得到所述参数化单元的版图描述文件;其中,所述版图描述文件用于指示所述参数化单元的版图的格式要求;所述格式要求包括:所述版图所占的层为任意一层、所述版图的面积为不大于预设阈值、所述版图的数量为一个、以及所述版图的形状为预设形状;
基于所述版图描述文件生成虚拟库;
在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下,从所述虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图,组建测试版图;
利用所述测试版图进行PDK测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
在正式库开发结束的情况下,获取正式库路径,并利用所述正式库路径替代库声明文件中的虚拟库路径,使得所述测试版图中所使用的版图都变更为所述正式库中的版图。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述开发库包括迁移库和原始库;
所述从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息,包括:
从与所述迁移库对应的源库中,查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息;
从与所述原始库对应的开发规则中,查找所述预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述版图描述文件生成虚拟库,包括:
对所述版图描述文件进行编译,得到虚拟库。
5.一种PDK测试的优化装置,其特征在于,包括:
查找模块,用于从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息;
编辑模块,用于对所述参数化单元的属性信息进行代码编辑,得到所述参数化单元的版图描述文件;其中,所述版图描述文件用于指示所述参数化单元的版图的格式要求;所述格式要求包括:所述版图所占的层为任意一层、所述版图的面积为不大于预设阈值、所述版图的数量为一个、以及所述版图的形状为预设形状;
生成模块,用于基于所述版图描述文件生成虚拟库;
组建模块,用于在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下,从所述虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图,组建测试版图;
测试模块,用于利用所述测试版图进行PDK测试。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,还包括:
替代模块,用于在正式库开发结束的情况下,获取正式库路径,并利用所述正式库路径替代库声明文件中的虚拟库路径,使得所述测试版图中所使用的版图都变更为所述正式库中的版图。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述开发库包括迁移库和原始库
所述查找模块用于从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息,包括:
所述查找模块,用于从与所述迁移库对应的源库中,查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息;还用于从与所述原始库对应的开发规则中,查找所述预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述生成模块具体用于:
对所述版图描述文件进行编译,得到虚拟库。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质包括存储的程序,其中,所述程序执行权利要求1-4任一所述的PDK测试的优化方法。
10.一种PDK测试的优化设备,其特征在于,包括:处理器、存储器和总线;所述处理器与所述存储器通过所述总线连接;
所述存储器用于存储程序,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行权利要求1-4任一所述的PDK测试的优化方法。
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