[发明专利]显示面板残影风险评估方法及显示面板

说明书

本申请提供一种显示面板残影风险评估方法及显示面板，该显示面板残影风险评估方法通过测量显示面板中液晶的介电系数，确定介电系数是否小于或等于介电阈值，在介电系数小于或等于介电阈值时，判定该显示面板存在残影风险，从而对显示面板的残影风险进行有效预测，为改善产品良率提供指导；本申请通过将显示面板中液晶的介电系数控制为大于介电阈值，大大降低了显示面板出现残影缺陷的风险，提高了产品品质和良率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板残影风险评估方法及显示面板。

背景技术

液晶显示是当前的主流显示技术，随着市场需求的变化，液晶显示装置正朝着大尺寸、高分辨率的方向发展。但是，随着液晶显示装置尺寸的不断增大以及分辨率的不断提高，诸多问题也在逐渐显现，其中较为严重的就是显示残影问题，尤其是线状残影。目前，线状残影的产生原因尚不得知，因此，在产品检验时无法对该问题进行有效预测，往往会造成一部分存在残影风险的产品流向客户，严重影响用户体验及产品形象。

因此，当前在生产显示面板时，无法对显示面板的残影风险进行有效预测，生产出的显示面板出现残影问题会严重影响显示品质和产品良率。

发明内容

本申请提供一种显示面板残影风险评估方法及显示面板，用于解决当前无法预测显示面板的残影风险的技术问题。

本申请提供一种显示面板残影风险评估方法，其包括：

提供一显示面板，所述显示面板包括液晶；

检测所述液晶的介电系数；

在所述液晶的介电系数小于或等于介电阈值时，判定所述显示面板存在残影风险。

在本申请的显示面板残影风险评估方法中，所述在所述液晶的介电系数小于或等于介电阈值时，判定所述显示面板存在残影风险的步骤，包括：

当所述液晶的介电系数小于或等于负3时；

判定所述显示面板存在残影风险。

在本申请的显示面板残影风险评估方法中，所述在所述液晶的介电系数小于或等于介电阈值时，判定所述显示面板存在残影风险的步骤，还包括：

当所述液晶的介电系数大于负3时；

判定所述显示面板无残影风险。

在本申请的显示面板残影风险评估方法中，所述在所述液晶的介电系数小于或等于介电阈值时，判定所述显示面板存在残影风险的步骤，还包括：

当所述液晶的介电系数小于或等于介电阈值时；

判定所述液晶中存在具有下列通式的至少其中之一的高极性分子，所述通式包括：

其中，n为大于或等于1的整数；

判定所述显示面板存在残影风险。

在本申请的显示面板残影风险评估方法中，所述显示面板还包括第一基板和第二基板，所述液晶位于所述第一基板和所述第二基板之间；

所述检测所述液晶的介电系数的步骤，包括：

检测所述显示面板未设置所述液晶时，所述第一基板与所述第二基板之间的空盒电容；

检测所述液晶在未偏转状态时，所述第一基板与所述第二基板之间的第一介质电容；

检测所述液晶在偏转状态时，所述第一基板与所述第二基板之间的第二介质电容；

根据所述第一介质电容与所述空盒电容的比值，确定第一介电参量；

根据所述第二介质电容与所述空盒电容的比值，确定第二介电参量；