[发明专利]设备的动态监控方法、系统及存储介质在审
申请号: | 202110290594.4 | 申请日: | 2021-03-18 |
公开(公告)号: | CN113094227A | 公开(公告)日: | 2021-07-09 |
发明(设计)人: | 谢剑星 | 申请(专利权)人: | TCL华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/30 | 分类号: | G06F11/30;G06F11/32;G06F17/18 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 远明 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 设备 动态 监控 方法 系统 存储 介质 | ||
1.一种设备的动态监控方法,应用于显示面板生产设备中,其特征在于,所述设备的动态监控方法包括如下步骤:
获取所述显示面板生产设备的参数数据;
根据所述参数数据的正太分布将所述参数数据划分成一稳定群组以及一非稳定群组,所述稳定群组中的参数数据符合正太分布,而所述非稳定群组中的参数数据不符合正太分布;
对所述稳定群组以及所述非稳定群组进行特征分析得到差异特征;
将所述稳定群组与所述差异特征进行拟合得到拟合函数;
将所述拟合函数与实际参数做残差分析;
判断第一时刻的残差是否大于一预设值;若是,则所述显示面板生产设备发出报警。
2.如权利要求1所述的设备的动态监控方法,其特征在于,
所述预设值为三倍所述拟合数据的标准差。
3.如权利要求1所述的设备的动态监控方法,其特征在于,
所述参数数据符合多维正态分布的3sigma原则。
4.如权利要求1所述的设备的动态监控方法,其特征在于,
在所述判断第一时刻的残差是否大于一预设值的步骤中,当所述第一时刻的残差大于所述预设值时,还包括如下步骤:
获取一时间区间的残差的标准差,所述第一时刻包含于所述时间区间;以及
判断所述第一时刻的残差是否大于三倍所述标准差;若是,所述显示面板生产设备发出报警,若否,则更新所述参数数据,进行重新拟合。
5.如权利要求1所述的设备的动态监控系统,其特征在于,
所述特征分析方法包括主成分分析。
6.一种设备的动态监控系统,其特征在于,包括:
获取模块,用以获取所述显示面板生产设备的参数数据;
分组模块,根据所述参数数据的正太分布将所述参数数据划分成稳定群组以及非稳定群组,所述稳定群组中的参数数据符合正太分布,而所述非稳定群组中的参数数据不符合正太分布;
特征分析模块,用以对所述稳定群组以及所述非稳定群组进行主成分分析得到差异特征;
拟合模块,用以将所述稳定群组与所述差异特征进行拟合得到拟合函数;分析模块,将所述拟合函数与实际参数做残差分析;以及
判断模块,用以判断第一时刻的残差是否大于一预设值,若是,则所述显示面板生产设备发出报警。
7.如权利要求6所述的设备的动态监控系统,其特征在于,
所述预设值为所述拟合数据的三倍标准差。
8.如权利要求6所述的设备的动态监控系统,其特征在于,
所述参数数据符合多维正态分布的3sigma原则。
9.如权利要求6所述的设备的动态监控系统,其特征在于,
在所述判断模块中,当所述第一时刻的残差大于一预设值时,所述判断模块包括:
获取单元,获取一时间区间的残差的标准差,所述第一时刻包含于所述时间区间;以及
判断单元,判断所述第一时刻的残差是否大于三倍所述标准差;若是,则所述显示面板生产设备发出报警,若否,则更新所述参数数据,重新拟合。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载以执行如权利要求1至5任一项所述的设备的动态监控方法。
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