[发明专利]设备的动态监控方法、系统及存储介质在审

专利信息
申请号: 202110290594.4 申请日: 2021-03-18
公开(公告)号: CN113094227A 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 谢剑星 申请(专利权)人: TCL华星光电技术有限公司
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30;G06F11/32;G06F17/18
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 远明
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 设备 动态 监控 方法 系统 存储 介质
【说明书】:

发明提供的一种设备的动态监控方法、系统及存储介质,可以解决面板生产上孤立的参数数据难以监控生产的缺陷,建立在参数数据间的群聚关系,分出离异较大的非稳定群组以及差异小的稳定群组。通过对所述稳定群组以及所述非稳定群组进行特征分析得到差异特征,并将所述稳定群组与所述差异特征进行拟合得到拟合函数并进行残差分析,判断一时刻的残差是否大于一预设值,若是,则所述显示面板生产设备发出报警,从而达到监控的目的。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种设备的动态监控方法、系统及存储介质。

背景技术

新一代信息技术,贯穿设计、生产、管理、服务等制造活动各个环节,具有信息深度自感知、智慧优化自决策、精准控制自执行等功能的先进制造过程、系统与模式的总称。现代制造业又迎来一次革命,实现自动化工厂向智能化工厂的转型,大数据技术为人工智能(AI)算法的基础,如何应用好大数据,是转型中的重中之重。

显示面板自动化工厂采集的数据是孤立的,数据的监控方式也是片面的,数据间的交互作用,在自动化工厂的模式中很难被有效的监控。

因此急需提供一种设备的动态监控方法,整合自动化设备所采集的数据,通过数据处理为设备提供有效的生产决策。

发明内容

本发明提供一种设备的动态监控方法,整合自动化设备所采集的数据,通过数据处理为设备提供有效的生产决策。

为了达到上述目的,本发明提供一种设备的动态监控方法,应用于生产显示面板的设备中,所述设备的动态监控方法包括如下步骤:获取所述显示面板生产设备的参数数据;根据所述参数数据的正太分布将所述参数数据划分成一稳定群组以及一非稳定群组,所述稳定群组中的参数数据符合正太分布,而所述非稳定群组中的参数数据不符合正太分布;对所述稳定群组以及所述非稳定群组进行特征分析得到差异特征;将所述稳定群组与所述差异特征进行拟合得到拟合函数;将所述拟合函数与实际参数做残差分析;判断一第一时刻的残差是否大于一预设值,若是,则所述显示面板生产设备发出报警。

进一步地,所述预设值为三倍所述拟合数据的标准差。

进一步地,所述参数数据符合多维正态分布的3sigma原则。

进一步地,在所述判断第一时刻的残差是否大于一预设值的步骤中,当所述第一时刻的残差大于所述预设值时,还包括如下步骤:获取一时间区间的残差的标准差,所述第一时刻包含于所述时间区间;判断所述第一时刻的残差是否大于三倍所述标准差时;若是,所述显示面板生产设备发出报警,若否,则更新所述参数数据,进行重新拟合。

进一步地,所述特征分析方法包括主成分分析。

本发明还提供一种设备的动态监控系统,包括:获取模块,用以获取所述显示面板生产设备的参数数据;分组模块,根据所述参数数据的正太分布将所述参数数据划分成稳定群组以及非稳定群组,所述稳定群组中的参数数据符合正太分布,而所述非稳定群组中的参数数据不符合正太分布;特征分析模块,用以对所述稳定群组以及所述非稳定群组进行主成分分析得到差异特征;拟合模块,用以将所述稳定群组与所述差异特征进行拟合得到拟合函数;分析模块,用以将所述拟合函数与实际参数做残差分析;以及判断模块,用以判断第一时刻的残差是否大于一预设值,若是,则所述显示面板生产设备发出报警。

进一步地,所述预设值为所述拟合数据的三倍标准差。

进一步地,所述参数数据符合多维正态分布的3sigma原则。

进一步地,在所述判断模块中,当所述第一时刻的残差大于一预设值时,所述判断模块中具体包括:获取单元,获取一时间区间的残差的标准差,所述第一时刻包含于所述时间区间;判断单元,判断所述第一时刻的残差是否大于三倍所述标准差时;若是,则所述显示面板生产设备发出报警,若否,则更新所述参数数据,重新拟合。

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