[发明专利]液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与DE-MURA设备

权利要求书

1.一种液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查CT1后直接对面板的色斑缺陷进行判断与修复，其特征在于，包括如下步骤；

在一次点灯检查CT1利用图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做De-mura，并针对需要做De-mura的面板进行De-mura处理；

所述图像采集单元包含影像截取器件CCD，用于采集点亮后面板的图像；

之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检CT2。

2.根据权利要求1所述的液晶面板的色斑修复方法，其特征在于，还包括偏光片贴附、COF贴合工艺和PCBA贴合工艺；

所述偏光片贴附工艺将偏光片贴附于通过一次点灯检查CT1的面板玻璃上；

所述COF贴合工艺将COF贴合于通过二次点灯复检CT2的面板玻璃上；

所述PCBA贴合工艺位于通过COF贴合工艺后，将COF与PCBA进行贴合；

在上述过程中通过一次点灯检查CT1后De-mura的判断结果，对面板进行区分，De-mura正常面板使用量产物料，包含偏光片、COF、PCBA，低规面板则使用低成本物料；

之后，在出货前的工站，将De-mura数据进行烧录，并做快速判定De-mura效果。

3.一种应用于权利要求1所述方法中的系统测试架构，其特征在于，包括面板主体架构、以及作用于所述面板主体架构的CT1 De-mura驱动系统；

所述CT1 De-mura驱动系统包含扎针单元，所述扎针单元由TestPadA单元、X1组TestPadB单元与若干资料信号线组成，其中，X1为整数，大于等于1；

所述TestPadA单元由时钟移位暂存器电路驱动提供并连接，所述Test Pad A单元与面板的扫瞄线电路连接，用于传送面板显示所需的扫瞄线信号；

所述TestPad B单元由数据驱动芯片电路DriverIC提供并连接，所述Test PadB单元与面板的资料线电路连接，用于传送面板显示所需的资料线信号；

若干所述资料信号线用于传递所述扫瞄线信号和所述资料线信号，以进行面板显示。

4.根据权利要求3所述的系统测试架构，其特征在于，

所述时钟移位暂存器电路和数据驱动芯片电路由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号予时钟移位暂存器电路，由De-mura图形产生器的中央控制单元送出触发信号和影像信号予数据驱动芯片电路DriverIC，所述数据驱动芯片电路送出资料线信号，所述时钟移位暂存器电路送出扫瞄线信号。

5.根据权利要求3所述的系统测试架构，其特征在于，所述面板主体架构上的设计，对应每组Test Pad B单元，包含X2个独立的资料Pad,其中X2为整数,大于等于4；

每个独立的资料Pad都由B个数据驱动芯片Driver IC内部的运算放大器来连接驱动，其中B＝A*(1±20％)，B与A皆为整数，A代表每个资料Pad对应的资料线数目，B代表运算放大器驱动的数量。

6.根据权利要求5所述的系统测试架构,其特征在于，每个独立的资料Pad对应的资料线数目为A，A值为小于单一资料Pad的耐流值Ipad除以电压变化的Ipeak值；

所述耐流值Ipad为资料Pad、扎针单元或两者之间的接触点所能承受的最大电流值；

所述电压变化的Ipeak值为所设计的面板驱动单一资料线电压瞬态变化最大时产生的最高峰电流。