[发明专利]液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与DE-MURA设备

说明书

本发明公开了一种液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查(CT1)后直接对面板的色斑缺陷进行判断与获取修补值，包括如下步骤；在一次点灯检查(CT1)增加图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做色斑缺陷修复(De‑mura)，针对需要做De‑mura的面板进行De‑mura处理，并获得修补值；之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检(CT2)。该方法将De‑mura移至一次点灯检查站点进行处理，改善电路PCBA板利用测试点扎针做De‑mura良率低的问题。同时，通过确定面板是否要做De‑mura，针对需要做De‑mura的面板进行De‑mura处理；可区分出正常面板用量产物料与低规面板用低成本物料，大大降低了物料成本，可节省的有偏光片、驱动芯片和电路板。

技术领域

本发明涉及液晶显示器技术领域，更具体的涉及一种液晶面板的色斑修复方法及所用系统测试架构与DE-MURA设备。

背景技术

近年来，随着国内液晶面板线体升级，液晶面板的出货尺寸越来越大，解析度越来越高，但因面板制程复杂，生产速度不断提高，面板均一性也越来越差，良率也不断降低。De-mura自动调试系统通过工业相机进行灰阶画面采样，演算法计算，得出补偿数据，用于De-mura IP，改善面板的均一性。

目前，现有的De-mura制程都在PCBA贴合后进行De-mura(即进行COF和XB贴合后)，其具体工艺流程参见图1所示。

现有的De-mura制程中，没有先对面板做是否色斑消除的判断，造成自身品质好的无需做色斑消除，占用色斑消除产能，无形中增加了面板工艺成本。若产线是使用自动扎针对PCBA测试点进行供电和驱动信号，由于PCBA板宽度窄，不容易固定，且PCBA板上铜会氧化，接触不良，扎针block经常跑偏，导致画面显示不良，影像截取有误，导致demura失败，PCBA板测试点扎针良率低，影响产能。

除此之外，现有的色斑消除自动化流程，没有对面板提前进行分类，低规品(色斑较多)的面板使用量产的物料或高等级物料(例如偏光片、驱动芯片等)，使得低规品的成本较高，公司去化低规品时，会有较大的利润损失。而品质好无需做色斑消除的高规品，依然进行色斑消除判断/处理，占用了色斑消除产能，增加面板工艺成本。

发明内容

本发明实施例提供一种液晶面板的色斑修复方法及应用于该方法中的系统测试架构和De-mura设备，用以解决上述背景技术中提出的问题。

本发明的第一个目的是提供一种液晶面板的色斑修复方法，用于在一次点灯检查CT1后直接对面板的色斑缺陷进行判断与修复，包括如下步骤；

在一次点灯检查CT1利用图像采集单元判断面板的亮度均匀状况，确定面板是否要做De-mura，并针对需要做De-mura的面板进行De-mura处理；

所述图像采集单元包含影像截取器件CCD，用于采集点亮后面板的图像；

之后，对面板依次进行偏光片贴附和二次点灯复检CT2。

优选地，该液晶面板的色斑修复方法，还包括偏光片贴附、COF贴合工艺和PCBA贴合工艺；

所述偏光片贴附工艺将偏光片贴附于通过一次点灯检查CT1的面板玻璃上；

所述COF贴合工艺将COF贴合于通过二次点灯复检CT2的面板玻璃上；

所述PCBA贴合工艺位于通过COF贴合工艺后，将COF与PCBA进行贴合；

在上述过程中通过一次点灯检查CT1后De-mura的判断结果，对面板进行区分，De-mura正常面板使用量产物料，包含偏光片、COF、PCBA，低规面板则使用低成本物料；

之后，在出货前的工站，将De-mura数据进行烧录，并做快速判定De-mura效果。