[发明专利]基于一种材料的宽谱段紫外成像仪光学系统有效
申请号: | 202110294069.X | 申请日: | 2021-03-19 |
公开(公告)号: | CN113050257B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 李寒霜;李博;林冠宇;顾国超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G02B13/14 | 分类号: | G02B13/14;G02B17/08;G02B5/20;G02B1/00;G03B11/00 |
代理公司: | 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 22214 | 代理人: | 张伟 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 一种 材料 宽谱段 紫外 成像 光学系统 | ||
本发明公开了一种基于一种材料的宽谱段紫外成像仪光学系统,属于紫外探测技术领域,用于解决现有技术中宽谱段紫外成像仪光学系统中透镜材料均在两种以上,且透镜不完全为球面,导致透镜加工、检测及光机装调的难度大,成本高的技术问题,本发明包括间隔地设置在光学系统中心轴线上的第一透镜和第二透镜;依次布设在所述第一透镜和所述第二透镜之间的折‑反射镜组和滤光片;以及设置在所述第二透镜远离所述滤光片侧的探测器;其中,所述第一透镜、所述第二透镜以及所述折‑反射镜组的镜片材料均相同,且所述镜片均为球面,本发明具有成像质量高,加工、检测及光机装调难度小,生产成本低的有益效果。
技术领域
本发明涉及紫外探测技术领域,尤其涉及一种基于一种材料的宽谱段紫外成像仪光学系统。
背景技术
紫外探测技术作为一项成熟的技术,已广泛应用于空间大气遥感探测、天文紫外星体观测、环境监测、海洋溢油污染监测、武器告警、武器预警以及电力巡线等领域,其对军事应用及人类的生产生活具有重要意义;
光学系统是紫外成像探测系统的核心部分,直接决定了紫外成像探测系统的性能优劣,由于紫外波段可供选择的光学透镜材料较少,尤其是考虑到实际应用中光学材料的理化性能、加工性能及抗辐射性能,因此,紫外波段光学系统色差的校正相比可见/红外波段光学系统色差的校正难度增大;
现有技术中,已有的紫外成像仪光学系统,尤其是宽谱段紫外成像仪光学系统,光学透镜材料均在两种或两种以上,且透镜不完全为球面,导致透镜加工、检测及光机装调的难度大,而多种透镜材料,也会相应的增加成本;
所以,如何解决现有技术中宽谱段紫外成像仪光学系统中光学透镜材料均在两种或两种以上情况,且透镜不完全是球面,导致透镜加工、检测及光机装调的难度大、成本高的问题,成为了本领域技术人员亟需解决的重要技术问题。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术存在的缺陷,提供一种基于一种材料的宽谱段紫外成像仪光学系统,该光学系统中所有透镜均采用相同材质,且所有透镜均为球面,降低了生产成本且易于光机加工、装调,根据宽谱段紫外成像仪光学系统口径、焦距要求并结合高灵敏度大动态紫外成像探测器的性能指标,采用折-反射式光学系统结构,达到了良好的成像质量,同时满足紫外成像仪小型轻量化的要求。
为了实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
本发明公开的基于一种材料的宽谱段紫外成像仪光学系统,包括:
间隔地设置在该光学系统中心轴线上的第一透镜和第二透镜;
依次布设在所述第一透镜和所述第二透镜之间的折-反射镜组和滤光片;以及
设置在所述第二透镜远离所述滤光片侧的探测器;
其中,所述第一透镜、所述第二透镜以及所述折-反射镜组的镜片材料均相同,且所述镜片均为球面。
进一步的,所述折-反射镜组包括至少两个折-反射镜。
进一步的,所述折-反射镜组包括第一折-反射镜和第二折-反射镜;
所述滤光片远离所述第二透镜侧设置有所述第一折-反射镜,且所述第一折-反射镜中心位置开设有所述第二折-反射镜折返光线能够通过的通孔;
所述第一透镜位于所述滤光片侧设置有第二折-反射镜。
进一步的,所述滤光片为平板滤光片。
进一步的,所述第一透镜为弯月型透镜。
进一步的,所述第一透镜、所述第二透镜以及所述折-反射镜组的镜片材料均为熔融石英。
进一步的,该光学系统的光谱范围为210-400nm的宽谱段紫外成像仪光学系统。
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