[发明专利]一种用于显示面板复检的方法、装置及系统

权利要求书

1.一种用于显示面板复检的方法，其特征在于，包括：

缺陷评价结果获取阶段和待检测显示面板复检阶段；

所述缺陷评价结果获取阶段包括：

根据显示面板的扫描图像确定所述扫描图像的第一候选缺陷，根据所述第一候选缺陷确定裁剪图像，根据所述裁剪图像确定第一缺陷评分；

从所述第一候选缺陷中筛选第二候选缺陷，根据所述第二候选缺陷的坐标位置移动复检相机以采集复检图像，根据所述复检图像确定第二缺陷评分，其中，所述第一缺陷评分和所述第二缺陷评分均用于评价缺陷的可靠性；

根据所述第一缺陷评分和所述第二缺陷评分确定各类缺陷的缺陷评价结果，以确定所述第一缺陷评分与所述缺陷评价结果是否存在一致性，其中，所述根据所述第一缺陷评分和所述第二缺陷评分确定各类缺陷的缺陷评价结果包括：根据所述第一缺陷评分和第一权重确定第一加权结果；根据所述第二缺陷评分和第二权重确定第二加权结果；根据所述第一加权结果和所述第二加权结果确定所述缺陷评价结果；

所述待检测显示面板复检阶段包括：

获取待检测显示面板的扫描图像，并根据所述扫描图像确定缺陷和各缺陷的类型；

根据预先获取的缺陷评价结果确定需复检类缺陷，从上述缺陷中挑选需复检类缺陷进行复检。

2.根据权利要求1所述的用于显示面板复检的方法，其特征在于，所述根据显示面板的扫描图像确定所述扫描图像的第一候选缺陷包括：

通过线扫系统扫描所述显示面板，获取所述扫描图像；

根据所述扫描图像，采用线扫算法确定所述第一候选缺陷。

3.根据权利要求1所述的用于显示面板复检的方法，其特征在于，所述根据所述第一候选缺陷确定裁剪图像包括：

根据所述第一候选缺陷的中心坐标和复检相机的分辨率确定裁剪图像。

4.根据权利要求1所述的用于显示面板复检的方法，其特征在于，所述根据所述裁剪图像确定第一缺陷评分包括：

采用复检算法对所述裁剪图像进行复检以确定所述第一缺陷评分。

5.根据权利要求1所述的用于显示面板复检的方法，其特征在于，所述从所述第一候选缺陷中筛选第二候选缺陷包括：

从所述第一候选缺陷中筛选出需要所述复检相机采集的候选缺陷作为所述第二候选缺陷。

6.根据权利要求1所述的用于显示面板复检的方法，其特征在于，所述根据所述复检图像确定第二缺陷评分包括：

采用复检算法对所述复检图像进行复检以确定所述第二缺陷评分。

7.一种用于显示面板复检的装置，其特征在于，包括：

缺陷评价结果获取模块，用于根据显示面板的扫描图像确定所述扫描图像的第一候选缺陷，根据所述第一候选缺陷确定裁剪图像，根据所述裁剪图像确定第一缺陷评分，从所述第一候选缺陷中筛选第二候选缺陷，根据所述第二候选缺陷的坐标位置移动复检相机以采集复检图像，根据所述复检图像确定第二缺陷评分，其中，所述第一缺陷评分和所述第二缺陷评分均用于评价缺陷的可靠性；根据所述第一缺陷评分和所述第二缺陷评分确定各类缺陷的缺陷评价结果，以确定所述第一缺陷评分与所述缺陷评价结果是否存在一致性，其中，所述根据所述第一缺陷评分和所述第二缺陷评分确定各类缺陷的缺陷评价结果包括：根据所述第一缺陷评分和第一权重确定第一加权结果；根据所述第二缺陷评分和第二权重确定第二加权结果；根据所述第一加权结果和所述第二加权结果确定所述缺陷评价结果；

待检测显示面板复检模块，用于获取待检测显示面板的扫描图像，并根据所述扫描图像确定缺陷和各缺陷的类型，根据预先获取的缺陷评价结果确定需复检类缺陷，从上述缺陷中挑选需复检类缺陷进行复检。

8.一种用于显示面板复检的系统，其特征在于，包括存储有计算机程序的计算机可读存储介质和处理器，所述计算机程序被所述处理器读取并运行时，实现如权利要求1至6任一项所述的用于显示面板复检的方法。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器读取并运行时，实现如权利要求1至6任一项所述的用于显示面板复检的方法。