[发明专利]一种用于显示面板复检的方法、装置及系统

说明书

本申请提供了一种用于显示面板复检的方法、装置及系统，涉及显示面板检测技术领域。本申请的用于显示面板复检的方法，包括：缺陷评价结果获取阶段和待检测显示面板复检阶段；缺陷评价结果获取阶段包括：根据显示面板的扫描图像确定第一缺陷评分；从第一候选缺陷中筛选第二候选缺陷，根据复检图像确定第二缺陷评分；根据第一缺陷评分和第二缺陷评分确定各类缺陷的缺陷评价结果；待检测显示面板复检阶段包括：获取待检测显示面板的扫描图像，并根据扫描图像确定缺陷和各缺陷的类型；根据预先获取的缺陷评价结果确定需复检类缺陷，从上述缺陷中挑选需复检类缺陷进行复检。本申请的技术方案，能够极大提高复检的效率，并同时兼顾缺陷检测的准确性。

技术领域

本申请涉及显示面板检测技术领域，具体而言，涉及一种用于显示面板复检的方法、装置及系统。

背景技术

随着电子技术、图像传感技术和计算机技术的快速发展，利用基于光学图像传感的表面缺陷自动光学(视觉)检测技术(automatically optical inspection，AOI)取代人工目视检测表面缺陷，已逐渐成为表面缺陷检测的重要手段。

对于较大尺寸的面板，多采用高分辨率线扫相机和高分辨率面阵相机相结合的方式检测，一般分为扫描与复检阶段。检测步骤一般为线扫相机对整个显示面板进行图像采集，并通过初检阶段的图像处理算法获取候选缺陷位置信息，面阵相机根据候选缺陷位置信息与候选缺陷设定的数量进行运动以及图像采集，最后根据复检阶段的图像处理算法对候选缺陷进行检测分类处理，最终确定缺陷。

目前在显示面板检测在复检时,一般只根据设定的候选缺陷数量进行复检,无法完全覆盖所有候选缺陷,如果要设定所有候选缺陷复检,那么检测效率将会十分低下。

发明内容

本申请解决的问题是如何检测全部缺陷同时保证检测效率。

为解决上述问题，本申请提供一种用于显示面板复检的方法，包括：缺陷评价结果获取阶段和待检测显示面板复检阶段；所述缺陷评价结果获取阶段包括：根据显示面板的扫描图像确定所述扫描图像的第一候选缺陷，根据所述第一候选缺陷确定裁剪图像，根据所述裁剪图像确定第一缺陷评分；从所述第一候选缺陷中筛选第二候选缺陷，根据所述第二候选缺陷的坐标位置移动复检相机以采集复检图像，根据所述复检图像确定第二缺陷评分；根据所述第一缺陷评分和所述第二缺陷评分确定各类缺陷的缺陷评价结果；所述待检测显示面板复检阶段包括：获取待检测显示面板的扫描图像，并根据所述扫描图像确定缺陷和各缺陷的类型；根据预先获取的缺陷评价结果确定需复检类缺陷，从上述缺陷中挑选需复检类缺陷进行复检。

本申请所述的用于显示面板复检的方法，通过扫描图像确定的第一缺陷评分和复检图像确定的第二缺陷评分来确定各类缺陷的缺陷评价结果，根据缺陷评价结果挑选需复检类缺陷进行复检，无需对已拥有较好准确率的某类缺陷进行复检，因此能够极大提高复检的效率，并同时兼顾缺陷检测的准确性。

可选地，所述根据显示面板的扫描图像确定所述扫描图像的第一候选缺陷包括：通过线扫系统扫描所述显示面板，获取所述扫描图像；根据所述扫描图像，采用线扫算法确定所述第一候选缺陷。

本申请所述的用于显示面板复检的方法，通过线扫系统扫描显示面板，获取扫描图像，根据扫描图像，采用线扫算法确定第一候选缺陷，从而能够根据第一候选缺陷来进行缺陷评价。

可选地，所述根据所述第一候选缺陷确定裁剪图像包括：根据所述第一候选缺陷的中心坐标和复检相机的分辨率确定裁剪图像。

本申请所述的用于显示面板复检的方法，根据第一候选缺陷的中心坐标和复检相机的分辨率确定裁剪图像，从而能够通过带有缺陷的裁剪图像确定第一缺陷评分。

可选地，所述根据所述裁剪图像确定第一缺陷评分包括：采用复检算法对所述裁剪图像进行复检以确定所述第一缺陷评分。