[发明专利]一种基于系统级模拟集成电路设计参数自动优化方法在审

专利信息
申请号: 202110295747.4 申请日: 2021-03-19
公开(公告)号: CN112906329A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: 万景;宗钰;张征;黄益飞;房华 申请(专利权)人: 苏州复鹄电子科技有限公司
主分类号: G06F30/33 分类号: G06F30/33;G06F30/337
代理公司: 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 代理人: 陈万江
地址: 215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 系统 模拟 集成电路设计 参数 自动 优化 方法
【说明书】:

发明涉及集成电路设计技术领域,特别涉及一种基于系统级模拟集成电路设计参数自动优化方法;包括以下步骤:A1、定义设计目标;A2、固定电路架构;A3、将电路划分为A个子电路模块;A4、将子电路模块参数优化结果的组合作为参数上传给总电路;A5、总电路利用子电路模块参数优化结果的组合结合剩余的元件进行参数优化;A6、在优化结果中选择符合设计目标的一组设计参数;A7、更新设计。本发明将大型电路参数优化分解为多个子电路参数优化,能够减小电路参数优化的难度与时间,同时可建立子电路模块优化结果库以便于设计师调用,使得设计过程更加便捷高效,在子电路参数优化方面,结合两种解决方案,可适应多种情况。

技术领域

本发明涉及集成电路设计技术领域,特别涉及一种基于系统级模拟集成电路设计参数自动优化方法。

背景技术

如图3所示,模拟集成电路设计参数优化一般流程如下,给定模拟电路设计目标和电路架构,设计师通过自身经验或相关优化方法,找到符合设计目标的设计参数。本质上这是一个高维的参数寻优问题,利用数学知识,可以将其转化为有约束的非线性规划问题并借助优化算法进行求解。

运用优化算法所获得的非线性规划解集允许设计者从一组相互冲突的设计指标中做出最佳选择,是解决电路最优设计的根本途径。但基于优化算法的非线性规划需要很大的计算量,尤其是需要调用电路仿真软件进行电路性能指标仿真时。随着电路规模增大,影响电路性能参数的因子增多,优化所需的时间也将指数增加,严重拖慢了优化速度。

对于大型电路,使用现有电路仿真软件进行一次仿真的时间较长,运用优化算法进行参数寻优需要进行大量的电路仿真,性能参数计算。因此,缩短单次仿真消耗时间,能较大幅度提升电路参数优化的速度。

为此,提出一种基于系统级模拟集成电路设计参数自动优化方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于系统级模拟集成电路设计参数自动优化方法,解决了目前行业内没有相关商业软件可以做到,大型电路单次仿真需要时间过长,当电路规模增大,影响电路性能参数的因子增多,优化所需的时间会指数增加,严重拖慢了优化速度的问题。

为了实现上述目的,本发明的技术方案如下:

一种基于系统级模拟集成电路设计参数自动优化方法,包括以下步骤:

A1、定义设计目标;

A2、固定电路架构;

A3、将电路划分为A个子电路模块;

A4、将子电路模块参数优化结果的组合作为参数上传给总电路;

A5、总电路利用子电路模块参数优化结果的组合结合剩余的元件进行参数优化;

A6、在优化结果中选择符合设计目标的一组设计参数;

A7、更新设计。

具体的,所述步骤A4中,获得子电路模块参数优化结果的组合方法包含:

方法一:建立子电路模块库,保存相应参数优化结果,当所需子电路模块在该库中时可直接调用其参数优化结果。

方法二:通过计算机并发计算得到元器件的设计参数值,使用优化算法,优化参数直到符合用户设定条件。

具体的,所述步骤A5中,总电路参数优化方法包含:

方法三:利用子电路模块的优化性能参数建立宏模型代替原本的子电路模块使用方法二进行总电路的参数优化。

方法四:将子电路优化参数的组合作为变量,结合剩余元件,通过计算机并发计算得到元器件的设计参数值,使用优化算法,优化参数直到符合用户设定条件。

本发明的有益效果为:

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