[发明专利]基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法和装置

权利要求书

1.一种基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法，其特征在于，包括步骤：

步骤S1、获取要检测变色缺陷的柔性IC基板源图像；

步骤S2、对柔性IC基板源图像进行预处理；

步骤S3、对预处理后的图像进行超像素图像的分割；基于色差分析的SLIC算法进行超像素图像分割的具体步骤如下：

步骤S31、按照ROI区域的面积和形状采用自适应算法选择各自连通域的种子的数量和坐标位置；

步骤S32、将图像从原来RGB颜色空间映射到CIELab颜色空间，针对每个像素构建一个6维特征向量：P_i＝[h_i,l_i,a_i,b_i,x_i,y_i]，其中P_i表示像素i的6维特征向量，(x_i,y_i)表示像素i的坐标，l_i，a_i，b_i分别对应表示像素i的Lab颜色通道L分量值，a分量值和b分量值，h_i表示像素点i的色角特征值；

步骤S33、参考颜色质量控制检测标准CMC(l:c)色差计算，在原来的SLIC算法引入明度因子k_l和彩色权重因子k_c；设定图像的分割大小S和紧凑密度系数k，对于选择的种子进行局部聚类迭代，选择给定步长区域对种子点寻求梯度最小的像素点作为新的种子点；

步骤S34、在给定的步长范围内，计算每个邻域像素点与种子点的尺度，并且根据尺度计算结果，将像素点更新归属于新的种子点构成超像素，其中每个邻域像素点与种子点的尺度计算公式为：

其中，表示邻域像素点i与最近种子点j的明度差，表示邻域像素点i与最近种子点j的色度差，表示邻域像素点i与最近种子点j的色角差，S_L、S_C和S_H分别表示像素明度、色彩和色差校正值；表示邻域像素点i与最近种子点j的空间信息差；表示邻域像素点i与最近种子点j的空间距离；

上式中：

其中，表示像素点i的明度，表示种子点j的明度；表示像素点i的色度，表示种子点j的色度；表示像素点i的色角，表示种子点j的色角；A_i，B_i分别表示CIELab颜色空间中a，b通道分量；

S_L，S_C，S_H计算公式如下：

S_C＝0.064·C_i/(1+0.013·C_i)+0.638；

S_H＝S_C(T·f+1-f)；

其中L表示CIELab颜色空间中l通道分量；式中的参数T，f计算方式如下所示：

其中，C_i表示像素点i的色度特征值，h_i表示像素点i的色角特征值；

步骤S35、使用欧氏距离L₂范数计算当前像素的最小尺度，并计算前一个聚类中心和当前聚类中心的残差ΔE：

ΔE＝E_ij-E_ip；

其中，E_ij是表示像素点i和当前聚类中心j的相似度，E_ip是表示像素点i和前一个聚类中心p的相似度；

步骤S4、将分割之后得到的超像素图像输入能量函数判定柔性IC基板变色缺陷。

2.根据权利要求1所述的基于超像素的柔性IC基板变色缺陷检测方法，其特征在于，步骤S2中柔性IC基板源图像进行预处理的过程如下：

步骤S21、首先采用中值滤波的方法对柔性IC基板源图像进行去噪处理；

步骤S22、将去噪处理后的图像进行色彩空间的映射，将RGB颜色空间映射到HSV颜色空间；

步骤S23、提取ROI区域并进行最大类间方差将图像二值化处理；其中ROI区域提取是指：根据柔性IC基板金面颜色特征，对金色颜色区域进行提取和分割。